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1、本文通過從頭計(jì)算研究Si2的勢(shì)能曲線和Si3分子的勢(shì)能面,并進(jìn)一步研究硅團(tuán)簇的結(jié)構(gòu)與性質(zhì)。為了熟悉掌握勢(shì)能函數(shù)的計(jì)算方法和計(jì)算技巧,首先對(duì)過渡金屬二聚物ScN分子的勢(shì)能函數(shù)進(jìn)行了計(jì)算。采用高精度的從頭算(ab initio)方法-多參考組態(tài)相互作用方法(MRCI)和不同的基組計(jì)算了ScN分子基態(tài)和激發(fā)態(tài)的勢(shì)能曲線,借助LEVEL或者M(jìn)OLCAS程序求解分子中核運(yùn)動(dòng)的薛定諤方程,得到了各電子態(tài)的光譜常數(shù),與實(shí)驗(yàn)值進(jìn)行比較。在對(duì)硅團(tuán)簇體系勢(shì)
2、能函數(shù)的研究過程中,為了探索合適的從頭計(jì)算方法,分別采用單參考組態(tài)耦合團(tuán)簇(CCSD(T))、完全活性空間自洽場(chǎng)(CASSCF)、MRCI幾種不同的計(jì)算方法對(duì)Si2分子基態(tài)的勢(shì)能曲線進(jìn)行計(jì)算,通過對(duì)比確定計(jì)算方法的可靠性。并利用MRCI方法和aug-cc-pVTZ基組對(duì)Si2分子及其離子的基態(tài)和各激發(fā)態(tài)進(jìn)行計(jì)算,運(yùn)用非線性曲線擬合方法和Murrel-Sorbie(MS)勢(shì)能函數(shù)表達(dá)式對(duì)所得勢(shì)能曲線進(jìn)行擬合,得到各個(gè)電子態(tài)的解析勢(shì)能函數(shù)(
3、APEFs),并由此確定了各個(gè)電子態(tài)的光譜常數(shù),與實(shí)驗(yàn)值進(jìn)行對(duì)比。對(duì)于Si3體系,根據(jù)Si2分子勢(shì)能函數(shù)研究中對(duì)計(jì)算方法的分析,分別采用CCSD(T)和CASSCF的計(jì)算方法及aug-cc-pVTZ基組,對(duì)Si3分子基態(tài)進(jìn)行了大量能量點(diǎn)的從頭計(jì)算?;趶念^算結(jié)果,采用多體展式方法,以Si2分子勢(shì)能函數(shù)研究中確定的兩體項(xiàng)為基礎(chǔ),用Sorbie-Murrell(SM)勢(shì)能函數(shù)表達(dá)三體項(xiàng),通過最小二乘法擬合得到了Si3分子基態(tài)的解析勢(shì)能函數(shù)。
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