γ探測效率曲線擬合公式的研究及體源自吸收因子的MCNP計算.pdf

1、用γ譜儀對樣品進行定量測量時，需要知道探測器對特定γ射線的探測效率。為了從已知刻度的若干能量點的γ探測效率得到該能區(qū)任意能量點的探測效率，就需對γ探測效率刻度數(shù)據(jù)進行曲線擬合。本文介紹兩個全能峰效率曲線的擬合公式。這兩個公式對擬合參數(shù)都是線性的，都是由γ射線與物質(zhì)相互作用過程(光電吸收、康普頓散射和電子對產(chǎn)生)的幾率隨入射γ射線能量的變化關(guān)系的漸近表達式中的若干項拼湊調(diào)整而得到的。兩個公式都能夠在很寬的能區(qū)上很好地擬合鍺探測器和NaI(

2、Tl)閃爍探測器對點源、面源及體源的全能峰效率曲線。本文詳述了這兩個擬合公式對不同探測器在不同探測幾何條件下的全能峰效率曲線進行擬合的情況。 在用γ譜儀對環(huán)境土壤樣品放射性水平進行測量時，待測樣品高度和基質(zhì)密度往往與刻度標準樣品的不同，所以必須考慮樣品高度的不同和基質(zhì)密度的變化對測量結(jié)果的影響。本文用MC模擬計算的方法，分別研究了不同體源樣品高度和密度下樣品對γ射線的自吸收因子與γ射線能量的變化關(guān)系。同時驗證了，體源自吸收因子隨