版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、目前,磁光材料和器件成為現(xiàn)代通信、航天、雷達(dá)、醫(yī)療必不可少的關(guān)鍵材料。磁光橢偏技術(shù)是近幾年發(fā)展起來(lái)的探測(cè)磁光材料磁學(xué)和光學(xué)性質(zhì)的新技術(shù),它能夠通過(guò)探測(cè)克爾效應(yīng)引起的反射光偏振狀態(tài)的改變,給出體材料和納米磁性膜的磁光特性,對(duì)研究磁性材料的磁各向異性、磁耦合等具有重要的意義。以磁光橢偏技術(shù)為基礎(chǔ)的磁光橢偏儀可以與薄膜生長(zhǎng)設(shè)備如磁控濺射設(shè)備、MBE結(jié)合在薄膜生長(zhǎng)過(guò)程中進(jìn)行原位測(cè)量,為薄膜生長(zhǎng)的不同階段提供精確參考,是指導(dǎo)薄膜生長(zhǎng)的必備檢測(cè)工具
2、。磁光橢偏儀還可為原有磁光薄膜材料進(jìn)行優(yōu)化升級(jí)提供可靠的理論與實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ),為尋找新型的磁光材料提供先進(jìn)的測(cè)量工具。
本論文較為系統(tǒng)的敘述了國(guó)內(nèi)外磁光橢偏技術(shù)領(lǐng)域相關(guān)的研究成果,對(duì)目前應(yīng)用廣泛的橢偏測(cè)量和表面磁光克爾效應(yīng)測(cè)量進(jìn)行了分析,從理論和實(shí)驗(yàn)兩方面對(duì)磁光橢偏技術(shù)進(jìn)行了分析,成功的建設(shè)了磁光橢偏實(shí)驗(yàn)平臺(tái),并利用該平臺(tái)測(cè)量了坡莫合金和納米磁性膜的磁光性質(zhì),實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明該平臺(tái)可以達(dá)到納米級(jí)的測(cè)量精度。此外,論文還從理論上分析了
3、體材料及多層薄膜結(jié)構(gòu)的磁光克爾效應(yīng),得到了縱向克爾偏轉(zhuǎn)角的計(jì)算公式。論文的創(chuàng)新點(diǎn)如下:
(1)將斬波器、鎖相放大器引入磁光橢偏實(shí)驗(yàn)平臺(tái),利用半導(dǎo)體激光器代替原先的偏振激光器,降低了對(duì)激光器的精度要求,利用斬波器中調(diào)制盤(pán),將連續(xù)激光變成脈沖激光;斬波器的方波作為鎖相放大器的參考信號(hào),探測(cè)器接收到的脈沖信號(hào)作為待測(cè)信號(hào)輸入鎖相放大器中進(jìn)行數(shù)據(jù)計(jì)算、存儲(chǔ)。論文對(duì)該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的可靠性與精確性進(jìn)行了一系列的實(shí)驗(yàn),得到了良好的效果。
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- vase橢偏儀
- 原子層沉積薄膜的橢偏儀模型研究.pdf
- 穆勒矩陣橢偏儀主控系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
- 新型自動(dòng)化橢偏儀的研制及應(yīng)用.pdf
- 基于廣義橢偏儀的納米結(jié)構(gòu)測(cè)量理論與方法研究.pdf
- 橢偏儀在集成電路檢測(cè)中的應(yīng)用.pdf
- 穆勒矩陣橢偏儀變角機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
- 寬光譜橢偏儀在集成電路中的研究與應(yīng)用.pdf
- 高精度寬光譜穆勒矩陣橢偏儀研制與應(yīng)用研究.pdf
- 原位橢偏儀研究聚苯乙烯薄膜溶脹-收縮過(guò)程.pdf
- 提高橢偏測(cè)量中薄膜參數(shù)精度的研究.pdf
- 相調(diào)制型光譜橢偏儀校準(zhǔn)及HfO2超薄膜表征.pdf
- 橢偏法測(cè)量光柵參數(shù)的理論研究.pdf
- 碳鋼孔蝕行為的橢偏譜學(xué)研究.pdf
- 46302.透明光電材料的橢偏研究
- 雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器型穆勒矩陣橢偏儀同步控制系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf
- 基于橢偏的石英晶體光軸檢測(cè)技術(shù)研究.pdf
- 納米尺度薄膜的制備及其光學(xué)性質(zhì)的橢偏研究.pdf
- 鉛電化學(xué)行為的橢偏譜學(xué)研究.pdf
- 寬光譜穆勒矩陣橢偏技術(shù)的拓展應(yīng)用
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論