同位素雙原子分子精確振轉(zhuǎn)能譜研究.pdf

1、同位素分子光譜在分子物理、化學(xué)物理等多種研究領(lǐng)域中具有特殊的理論和應(yīng)用價(jià)值。實(shí)驗(yàn)上得到的光譜信息對(duì)不同的同位素分子可能存在差異,對(duì)比實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)常常缺乏一些稀少同位素分子的精確而豐富的光譜數(shù)據(jù)信息。因此,利用已知分子的光譜信息獲得其同位素分子的未知的精確光譜是同位素分子光譜理論的研究基本內(nèi)容之一。
　　 通常理論上研究同位素分子能譜需要在精確哈密頓量的基礎(chǔ)上求解對(duì)應(yīng)的薛定諤方程。由于一般難以獲得全程范圍的精確分子勢(shì)能,所以在應(yīng)用

2、過程中,所得結(jié)果的精度往往會(huì)受到影響。
　　 本文介紹并將應(yīng)用研究同位素分子光譜的一種新方法—誤差補(bǔ)償法(IEC方法)—進(jìn)行同位素分子光譜的理論研究。使用該方法可以在一定程度上突破構(gòu)造精確哈密頓所需精確勢(shì)能的制約。
　　 IEC方法研究同位素分子光譜的基本步驟如下:
　　 (1)確定已知分子和目標(biāo)分子并尋找已知分子的精確分子勢(shì)能或合適的嘗試勢(shì)能;
　　 (2)已知分子的勢(shì)能代入對(duì)應(yīng)的薛定諤方程,分別求解已

3、知分子和目標(biāo)同位素分子的振轉(zhuǎn)能量本征值;
　　 (3)計(jì)算已知分子的能級(jí)/能譜誤差,以此誤差作為目標(biāo)分子的對(duì)應(yīng)誤差并應(yīng)用該誤差校正對(duì)應(yīng)能級(jí)/能譜,即得IEC結(jié)果。
　　 本文主要應(yīng)用誤差補(bǔ)償法分別研究了LiH、ZnO、ZnS、SiSe、SiTe、BO及Agn同位素分子的電子基態(tài)或激發(fā)態(tài)的純振動(dòng)、純轉(zhuǎn)動(dòng)和振轉(zhuǎn)能譜。同已知的精確實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)相比,該方法所得結(jié)果均優(yōu)于應(yīng)用廣泛的半經(jīng)典同位素效應(yīng)(SCIR)方法的結(jié)果,同時(shí)獲得了所研