基于小型TFt-LCD點(diǎn)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的研究.pdf

1、在液晶屏復(fù)雜精細(xì)的生產(chǎn)過(guò)程中，容易產(chǎn)生缺陷面板，特別是像素點(diǎn)缺陷。為了改善人工檢測(cè)的低效率、高成本，本論文選取小型TFT-LCD(Thin FilmTransistor-LCD)為研究對(duì)象，對(duì)像素點(diǎn)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行研究，實(shí)現(xiàn)高效率、低成本的自動(dòng)化檢測(cè)。本文主要研究?jī)?nèi)容如下:
　　(1)通過(guò)了解TFT-LCD的構(gòu)造和工作原理，論文分析研究了TFT-LCD點(diǎn)缺陷的成因和壞點(diǎn)分布特點(diǎn)。
　　(2)分析研究點(diǎn)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，提出基于圖

2、像處理的檢測(cè)算法，包括圖像采集、圖像預(yù)處理、圖像配準(zhǔn)和缺陷檢測(cè)。結(jié)合實(shí)際點(diǎn)缺陷特點(diǎn)，提出改進(jìn)算法，并在MATLAB上進(jìn)行理論驗(yàn)證。
　　(3)利用C++語(yǔ)言在Visual Studio2015平臺(tái)上進(jìn)行檢測(cè)系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)。結(jié)合點(diǎn)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的特點(diǎn)和數(shù)字圖像處理技術(shù)，設(shè)計(jì)軟件流程，進(jìn)行VC++模塊化代碼開(kāi)發(fā)。
　　(4)論文按照前期的準(zhǔn)備工作進(jìn)行硬件搭建并得出實(shí)驗(yàn)結(jié)果。分別對(duì)MATLAB環(huán)境下的模擬實(shí)驗(yàn)仿真結(jié)果與VC++環(huán)境下