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1、正弦擬合算法是IEEE標(biāo)準(zhǔn)中定義的算法,具有測(cè)試精度高、穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器(analog-to-digital converter, ADC)的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試。而隨著ADC分辨率和芯片集成度的提高,該算法不能完全適應(yīng)ADC測(cè)試,如何實(shí)現(xiàn)高分辨率ADC的快速、精確測(cè)試是一個(gè)亟待解決的問(wèn)題。
本文開(kāi)展基于極大似然估計(jì)的正弦擬合算法的高分辨率ADC測(cè)試研究,重點(diǎn)解決該算法由于估算參數(shù)過(guò)多而帶來(lái)的測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)的問(wèn)題,從而
2、實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試ADC。該算法共兩部分:轉(zhuǎn)換電平和初值的獲取,似然方程的求解。本論文首先利用參數(shù)譜估計(jì)方法獲取待測(cè)ADC的轉(zhuǎn)換曲線,再利用切比雪夫變換的可逆性,獲得輸入關(guān)于輸出碼的函數(shù),從而快速獲得轉(zhuǎn)換電平。然后本文采用差分進(jìn)化算法求解似然方程并優(yōu)化其中參數(shù)。最后,本文利用頻率估計(jì)和三參數(shù)正弦擬合算法確定初始值。
針對(duì)14位ADC,本文所提方法仿真結(jié)果信納比為76.53dB,有效位數(shù)為12.42位?;谛酒珹DS6243的測(cè)試結(jié)果
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