PIC12F509全速電流測試及自反饋測試研究.pdf

1、集成電路測試技術(shù)是生產(chǎn)高性能集成電路和提高集成電路成品率的關(guān)鍵。隨著集成電路制造技術(shù)的發(fā)展，電壓測試和穩(wěn)態(tài)電流測試方法已不能滿足高性能集成電路的要求。90年代中期提出的瞬態(tài)電流測試方法（IDDT Testing）能夠發(fā)現(xiàn)一些其他測試方法所不能發(fā)現(xiàn)的故障，進(jìn)而從總體上進(jìn)一步提高測試的故障覆蓋率，滿足人們對高性能集成電路的需要，但是由于其對測試設(shè)備要求苛刻現(xiàn)在仍處于研究階段。針對瞬態(tài)電流測試過于依賴測試設(shè)備的現(xiàn)狀，中科院閔應(yīng)驊教授等提出了全

2、速電流測試方法（IDDA Testing）。全速電流測試的可行性已在仿真實驗中得到了驗證，現(xiàn)在需要實測實驗的支持。 本文運(yùn)用指令級全速電流測試方法，以PIC12F509微處理器為例，通過實驗說明全速電流測試方法的可行性。PIC12F509的指令級測試以匯編測試程序作為測試激勵，實驗中通過對PIC12F509的詳細(xì)分析，確定了針對數(shù)據(jù)通路的測試策略，并給出了測試程序的產(chǎn)生方法。實驗結(jié)果表明，用指令級全速電流測試方法對PIC12F5

3、09微處理器進(jìn)行測試是可行的。通過測試所有的數(shù)據(jù)通路，不僅可以檢測數(shù)據(jù)通路的故障，而且可以檢測由于控制錯誤而引起的數(shù)據(jù)傳送錯誤。 隨機(jī)自反饋測試方法測試生成簡單，節(jié)省了保存測試向量的存儲器開銷，但它需要對測試產(chǎn)生的每個測試集都做故障模擬來尋找故障覆蓋率高的測試集，耗費(fèi)的測試產(chǎn)生時間太大。為了減少故障模擬次數(shù)和故障模擬時間，本文研究了基于海明距離的隨機(jī)自反饋測試方法，通過探討測試集的海明距離和故障覆蓋率之間的關(guān)系，尋找故障覆蓋率高