截尾分布下飽和析因設計數值分析法的比較研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、可靠性試驗貫穿于新產品的研制、定型及批量生產過程中．一般來說可靠性試驗時間較長，費用較大．在許多情況下不允許等到所有試驗品都發(fā)生失效(故障)，此時可靠性試驗就可能出現許多截尾數據，即在所試驗的產品中有些發(fā)生失效(故障)，另一些沒有失效．故在無重復試驗的飽和析因設計中，由于在分析這類數據時沒有多余的自由度可用于估計誤差方差，因而不能采用標準的方差分析法．由此可見研究試驗指標服從截尾正態(tài)分布的一些飽和析因設計數值分析法尤為重要．本文采用蒙特

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