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文檔簡(jiǎn)介
1、在眾多存儲(chǔ)器中,由于靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(Static Random Access Memory, SRAM)具有可靠性好、速度快、功耗小的特性,使其在存儲(chǔ)器中占有舉足輕重的地位。同時(shí)SRAM還可以與標(biāo)準(zhǔn)的CMOS工藝兼容,而其他的存儲(chǔ)器則需要特殊的制造工藝。由于SRAM在微處理器和片上系統(tǒng)中占據(jù)了很大面積,同時(shí)在輻射環(huán)境中很容易發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)(single event upset,SEU),因此,必需考慮如何降低SRAM的功耗以及提高其
2、可靠性。
降低電壓是最有效的低功耗方法,因?yàn)樗梢酝瑫r(shí)降低動(dòng)態(tài)功耗和靜態(tài)功耗。本文設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)器工作電壓降低到閾值電壓以下,即亞閾值工作模式,從而獲得超低功耗的特點(diǎn),亞閾值電路有很廣的應(yīng)用領(lǐng)域,甚至是航空電子領(lǐng)域。為了提高SRAM抗單粒子翻轉(zhuǎn)的能力,本設(shè)計(jì)采用雙互鎖存儲(chǔ)單元(Dual Interlocked storage Cell,DICE),該結(jié)構(gòu)不僅可以抗單粒子翻轉(zhuǎn),同時(shí)可以提高存儲(chǔ)單元的靜態(tài)噪聲容限。
本文設(shè)計(jì)
3、的64×8位的SRAM是基于SIMC180 nm CMOS工藝。經(jīng)過(guò)仿真,該存儲(chǔ)器可以在亞閾值條件下工作,同時(shí)可以抗單粒子翻轉(zhuǎn)。存儲(chǔ)單元在150 mV的低壓下依然可以正常工作。最后對(duì)整個(gè)存儲(chǔ)器的性能進(jìn)行了仿真,結(jié)果顯示,本文設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)器可以在很低的電壓下工作,并且有很低的功耗,當(dāng)電源電壓為300 mV時(shí),存儲(chǔ)器的最大工作頻率為180 KHz,此時(shí)的功耗為0.208μW,當(dāng)電源電壓為500 mV時(shí),存儲(chǔ)器的最大工作頻率為9.62 MHz,
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