關(guān)于提高芯片ICS模塊良品率的研究.pdf

1、關(guān)于提高芯片關(guān)于提高芯片ICS模塊良品率的研究模塊良品率的研究ResearchontheYieldImprovementofICSModule領(lǐng)域：電子與通信工程研究生：徐明皞指導(dǎo)教師：金杰教授企業(yè)導(dǎo)師：曹建光高工天津大學(xué)電子信息工程學(xué)院二零一三年十一月摘要在半導(dǎo)體芯片的生產(chǎn)測試過程中，測試廠需要在各種不同的環(huán)境溫度下對半導(dǎo)體芯片的各個功能模塊進行測試，以保證芯片在用戶手冊允許的工作環(huán)境范圍內(nèi)都具有良好的性能，達(dá)到用戶手冊中的指標(biāo)要求。

2、本論文研究對象為飛思卡爾增強型八位單片機SG3216系列芯片的內(nèi)部時鐘源模塊(ICS)。該模塊具有頻率修正寄存器，用戶可以通過調(diào)整頻率修正寄存器的設(shè)定值來改變ICS模塊的電性參數(shù)，達(dá)到調(diào)節(jié)輸出頻率的目的。本文通過對大量生產(chǎn)數(shù)據(jù)的總結(jié)，發(fā)現(xiàn)ICS模塊在測試過程中存在比較嚴(yán)重的過殺問題。論文針對具有普適性的樣本，設(shè)計合理的實驗，對測試溫度、頻率修正寄存器設(shè)定值及ICS模塊實際輸出頻率三者之間的關(guān)系進行分析驗證。針對當(dāng)前生產(chǎn)中的次品，分析通過

3、調(diào)整頻率修正寄存器設(shè)定值，來減少測試過殺的可行性。對當(dāng)前的測試方法進行改進，采用問題預(yù)案的思路，在第一溫測試時，為頻率修正寄存器驗證多個滿足要求的設(shè)定值；在第二溫測試時，根據(jù)測試結(jié)果，為產(chǎn)品的頻率修正寄存器選定最佳設(shè)定值，以便使ICS模塊的頻率輸出達(dá)到更高精度，實現(xiàn)減少過殺、提高良品率的目的。本文所提出的新測試方法已投入到正式生產(chǎn)中，經(jīng)過大批量的實際生產(chǎn)驗證，良品率提升效果明顯。并已成功推廣到飛思卡爾S08單片機的SG84、EL3216