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文檔簡介
1、JTAG技術(shù)是IEEE規(guī)范的一種測試方法,可以實(shí)現(xiàn)測試復(fù)雜度降低、提高產(chǎn)品全生命周期中的質(zhì)量與效率,在集成電路測試中有廣泛的應(yīng)用,尤其是在海量發(fā)貨的集成電路生產(chǎn)測試過程。在工程領(lǐng)域中,隨著 JTAG技術(shù)的發(fā)展,可以應(yīng)用于產(chǎn)品生命周期的全過程,包括產(chǎn)品設(shè)計(jì)、硬件原型調(diào)試、生產(chǎn)測試、系統(tǒng)測試和現(xiàn)場安裝服務(wù)等。由于 JTAG技術(shù)在產(chǎn)品生命周期不同階段的廣泛應(yīng)用,使得產(chǎn)品的可測性、可維護(hù)性得到了大幅提升,同時(shí)降低了產(chǎn)品生命周期內(nèi)成本,具有十分重
2、大的市場價(jià)值。
JTAG技術(shù)本身是基于串行接口,速率不高,在應(yīng)用過程中,如典型的CPLD、Flash加載升級,需要處理數(shù)據(jù)量大,工程應(yīng)用加載升級時(shí)間過長,因此執(zhí)行效率是產(chǎn)品應(yīng)用的關(guān)鍵指標(biāo)。隨著幾代JTAG技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用,JTAG速率雖然也有很大提升與改善,但是在實(shí)際的產(chǎn)品應(yīng)用中,由于產(chǎn)品應(yīng)用需求的發(fā)展,現(xiàn)有的JTAG處理速率又成為的工程應(yīng)用的瓶頸。
本文結(jié)合 JTAG技術(shù)在通訊設(shè)備系統(tǒng)架構(gòu)的應(yīng)用,提出了基于 JTA
3、G控制器分布式部署架構(gòu)的第五代 JTAG在線應(yīng)用系統(tǒng),并對在線 Flash加載、在線SVF文件執(zhí)行場景性能瓶頸從系統(tǒng)架構(gòu)、硬件設(shè)計(jì),軟件設(shè)計(jì)進(jìn)行效率與成本的分析,給出了針對性的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,詳細(xì)描述了在線Flash加載、在線SVF文件執(zhí)行場景下的關(guān)鍵設(shè)計(jì)點(diǎn),提出了分布式SOC化實(shí)現(xiàn)JTAG數(shù)據(jù)運(yùn)算與發(fā)送并行執(zhí)行,串行總線實(shí)現(xiàn) JTAG與系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)解耦的關(guān)鍵技術(shù)。通過優(yōu)化設(shè)計(jì),第五代 JTAG在線應(yīng)用系統(tǒng)大幅提升了處理效率,提升了 JT
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