TDR差分測量方法與多點校準(zhǔn)技術(shù)研究與軟件實現(xiàn).pdf

1、TDR特性阻抗測試儀是一款利用時域反射法測量阻抗不連續(xù)點處特性阻抗的儀器,適用于電路板制造商對PCB跡線進行出廠前質(zhì)量檢驗。目前項目組自主研發(fā)成功了Asida系列特性阻抗測試儀器,但是在核心的校準(zhǔn)與測量技術(shù)上面還不夠完善,需要進一步的優(yōu)化,來提高整個系統(tǒng)的測量精度。本論文以提高特性阻抗測試儀的精度為目標(biāo),主要工作內(nèi)容有以下幾方面:
　　首先,根據(jù)時域反射計(TDR)的基本原理和儀器需要實現(xiàn)的功能,制定 TDR特性阻抗測試儀的總體方

2、案,并根據(jù)總體方案利用面向?qū)ο蠼y(tǒng)一建模語言UML進行軟件需求分析建模和軟件設(shè)計分析建模;第二,分析對比目前業(yè)界的差分測量算法,根據(jù)自身硬件條件選擇了對硬件要求較低,只需單脈沖源和單取樣頭,但對軟件算法要求較高的等效偽差分測試算法,這種差分測試方法不僅降低了開發(fā)成本,并且測量結(jié)果也在允許的誤差范圍內(nèi);第三,提出了一種改進的校準(zhǔn)方法,將傳統(tǒng)的兩點校準(zhǔn)改進為多點校準(zhǔn),測量誤差比傳統(tǒng)方法降低了2％,傳統(tǒng)方法的誤差為5％,并將改進的校準(zhǔn)方法和等效

3、偽差分測量算法在特性阻抗測試儀中實現(xiàn);第四,重新設(shè)計了特性阻抗測試儀的數(shù)據(jù)存儲模塊,采用了數(shù)據(jù)庫管理方案彌補了文檔管理方式的缺陷,為項目的進一步發(fā)展提供了數(shù)據(jù)存儲空間保證;最后,總結(jié)了影響特性阻抗測量精度的幾個因素,并給出了解決方案,確保整個系統(tǒng)能夠提供更精確的測量服務(wù)。
　　本文的校準(zhǔn)與測試算法以及數(shù)據(jù)存儲方法均是在VC++平臺上實現(xiàn),并根據(jù)項目需要實現(xiàn)的目標(biāo),聯(lián)合硬件平臺進行聯(lián)調(diào)測試。經(jīng)過大量的實際測量實驗,將本文結(jié)果與泰克、