嵌入式CPU的納米尺度SRAM設(shè)計研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、靜態(tài)隨機存儲器SRAM作為嵌入式IP應(yīng)用的一類最主要的高速緩存,已經(jīng)成為當(dāng)前數(shù)字集成電路領(lǐng)域的一大研究熱點。隨著集成電路設(shè)計進入納米時代,工藝的進步對嵌入式SRAM的設(shè)計提出了新的挑戰(zhàn)。本文圍繞應(yīng)用于32位嵌入式CPU的高性能低功耗SRAM設(shè)計展開了以下方面的研究:
   1.針對亞100納米工藝下參數(shù)的隨機變化引起器件失配而影響SRAM穩(wěn)定性的問題,本文采用蒙特卡羅模擬方法,調(diào)用SPICE模型分別對讀、寫、保持模式下的SRAM

2、進行失效統(tǒng)計分析,為納米尺度的SRAM設(shè)計提供了參考依據(jù)。
   2.與傳統(tǒng)費時、高成本的全定制設(shè)計方法不同,本文提出了一種全定制和半定制相結(jié)合的SRAM設(shè)計方法,對其中時序要求、電性能要求比較高的模塊采用自底向上的全定制方法設(shè)計,對數(shù)字邏輯模塊采用自頂向下的半定制方法設(shè)計。這種方法的設(shè)計周期短,開發(fā)成本低,而且擴展性好、工藝可移植性強。
   3.完成了一系列90nm工藝下自主嵌入式CPU的片上SRAM設(shè)計,建立了一個

3、適用于納米工藝的設(shè)計流程。率先在國內(nèi)實現(xiàn)了納米工藝的SRAM定制設(shè)計,為65nm及以下工藝的SRAM設(shè)計奠定了堅實的基礎(chǔ)。
   4.本文深入分析了嵌入式存儲器在系統(tǒng)級的同步時序問題,提出了一種基于粒子群優(yōu)化(PSO)算法的有用時鐘偏差規(guī)劃方法。該方法在不改變電路結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,采用慣性權(quán)重線性遞減的自適應(yīng)PSO算法調(diào)整存儲器的有用時鐘偏差,并通過迭代不斷優(yōu)化組合邏輯的延時,從而減小時鐘周期。應(yīng)用該算法對嵌入式CPU進行優(yōu)化計算,

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