移動終端測試箱體中若干問題的研究.pdf

1、近年來，由于傳輸線理論的簡單和物理意義的明確，其在屏蔽領(lǐng)域的運(yùn)用又逐步升溫。傳輸線分析方法的簡便性，其引起了很多學(xué)者的興趣。有的試著構(gòu)建有孔屏蔽腔帶負(fù)載的傳輸線模型。傳統(tǒng)的計(jì)算屏蔽效能是計(jì)算同一點(diǎn)中有屏蔽箱體和沒有屏蔽箱體的電壓的比值，這種計(jì)算方法的優(yōu)點(diǎn)是很容易算出值，但僅適合于低頻電場和磁場。假如在高頻，當(dāng)屏蔽體的尺寸與波長可比時，電磁場區(qū)域的衰減必須要考慮，因此必須要有新的定義屏蔽效能的方法：用功率法計(jì)算屏蔽效能。
　　 隨

2、著電磁兼容檢測技術(shù)的發(fā)展和提高，人們正針對不同的電子電器產(chǎn)品尋求更為簡單便捷的檢測方法，尤其對于小型的電子產(chǎn)品，如：集成電路、手機(jī)、汽車電子零部件等。由于器件中集成模塊間的電磁性能問題可以引起相應(yīng)器件的功能發(fā)生問題。要很好的解決電磁干擾問題，就必須準(zhǔn)確的探測器件各模塊的電磁干擾，如ETS—Lindgren屏蔽箱測試系統(tǒng)和索尼愛立信的眼鏡蛇測試系統(tǒng)就是解決上述問題的測試系統(tǒng)。
　　 本文從測試系統(tǒng)的屏蔽效能是其主要的性能出發(fā)，總結(jié)

3、和分析了計(jì)算多層屏蔽體屏蔽效能的計(jì)算公式，更深入的分析了當(dāng)入射波斜入射時屏蔽效能的計(jì)算公式的有效性，并對其進(jìn)行驗(yàn)證。從屏蔽箱體的基本理論出發(fā)，提出了利用功率法計(jì)算帶孔腔體屏蔽效能的計(jì)算方法，功率法考慮到了電磁場區(qū)域的衰減，并且對其進(jìn)行仿真驗(yàn)證，進(jìn)一步研究了內(nèi)置PCB板的腔體的屏蔽效能來驗(yàn)證功率法的有效性。更分析和仿真了可用于移動終端電磁兼容測試的屏蔽箱，該測試屏蔽箱采用性能優(yōu)越的超寬帶平面天線作為探測天線，具有天線尺寸小，帶寬覆蓋范圍寬