基于不同域的流水線ADC數(shù)字校準(zhǔn)方法的設(shè)計與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、流水線結(jié)構(gòu)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)兼顧精度與速度,在無線通信、醫(yī)療、生物等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。基于數(shù)字校準(zhǔn)的ADC設(shè)計是解決高速與高精度這一矛盾的重要研究點,具有十分重要的研究意義與價值。
  本文首先對近年來國內(nèi)外校準(zhǔn)方法進行了歸類綜述,在總結(jié)其優(yōu)缺點的基礎(chǔ)上給出了適合本次設(shè)計指標(biāo)的校準(zhǔn)方法研究方向。
  其次,簡要介紹了流水線ADC的結(jié)構(gòu),分析了其誤差來源,給出了ADC的性能判定指標(biāo)。并簡單數(shù)學(xué)分析了最小均方誤差算法的原理。

2、
  針對傳統(tǒng)誤差建模中存在的四個問題,本文在其基礎(chǔ)上給出了隨機誤差的建模,并基于此,提出了一種改進的自適應(yīng)步長盲均衡校準(zhǔn)算法。仿真表明,改進的算法和傳統(tǒng)的算法相比,在誤差條件范圍一致的情況下,各性能指標(biāo)均有4~10dB的提升。同時,改進算法收斂速度更快,性能更穩(wěn)定。
  考慮到深亞微米以及納米級工藝芯片設(shè)計中線路間干擾越發(fā)嚴重,特別是在數(shù)?;旌显O(shè)計中,物理設(shè)計更加困難。本文在一種新的數(shù)值域—概率域內(nèi)將盲均衡算法進行了重新設(shè)

3、計。在設(shè)計中,本文提出了一種新的高精度加法器設(shè)計方法和一種新的低復(fù)雜度高吞吐率的乘加結(jié)構(gòu)。最終仿真表明,在概率域中設(shè)計的盲均衡校準(zhǔn)算法依舊可以正常工作,且可以在一定程度上校準(zhǔn)非線性誤差。
  最后,本文在權(quán)衡設(shè)計指標(biāo)和實際設(shè)計困難的基礎(chǔ)上,選擇提出的第一種改進方法進行了實現(xiàn)設(shè)計,完成了基于MATLAB-FPGA的原型驗證,以及基于SMIC0.13um工藝的芯片設(shè)計。芯片設(shè)計DIE面積約為2*1.2mm2。在模擬電路實際仿真的數(shù)據(jù)(

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