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1、嵌入式調(diào)試環(huán)境用于支持嵌入式軟件的調(diào)試和測試,是嵌入式開發(fā)工具鏈中最關(guān)鍵的部分。但是目前國內(nèi)外流行的嵌入式調(diào)試環(huán)境價格昂貴并且只能適用于專用的硬件平臺,通用的調(diào)試環(huán)境也只能應(yīng)用于單核或同構(gòu)多核的片上系統(tǒng),針對異構(gòu)多核片上系統(tǒng)的調(diào)試環(huán)境還沒有出現(xiàn),這使得開發(fā)異構(gòu)雙核調(diào)試環(huán)境變得日益迫切。
本文在分析了常用的嵌入式調(diào)試技術(shù)和調(diào)試系統(tǒng)的優(yōu)缺點(diǎn)后,結(jié)合本文目標(biāo)系統(tǒng)的特點(diǎn)設(shè)計并實(shí)現(xiàn)了面向不同調(diào)試技術(shù)的高性能的異構(gòu)雙核調(diào)試環(huán)境。本調(diào)試
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