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1、西安電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文MMCHOST控制器可測(cè)性設(shè)計(jì)姓名:謝元斌申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專(zhuān)業(yè):微電子學(xué)與固體電子學(xué)指導(dǎo)教師:郝躍20070101AbstractTestingisanecessarypartintheICdesignprocessDuetOthecontinuousincreaseinthecomplexityofICdesignandprocess,designfortest(DFT)technologyismorea
2、ndmorediffcult,alsomoreandmoreimportantAndsystem—on—chip(SoC)whichembracedvariousreusedIPcoresmakethetestingevenmoreprominentInthispapertheconceptionofDFTisdisplayedfirstandsomeconventionaltestmethodiSshowedInordertotest
3、everyembeddedIPcoresconvenientlypeoplemakeastandardtestabilitymerhodeforembeddedcorebasedintegratedcircuits,itisnamedIEEEP1500gtandardThenP1500standardisintroducedinthispaperThepapershowedthestructureofP1500testwrapperan
4、deachpartofthewrapperThesepansarewrapperserialport(WSP),wrapperinstructionregister(WlR),wrapperbypassregister(WBY),wrapperboundaryregister(WBR)ThepaperalsodisplaysthedesignspecificationoftIlesepartsThewholeSoCteststructu
5、reofIEEEP1500isshowedBecausethewTapperclosecontacttotheinternalscanchainsofIPcore,sothepaperalsointroducethetechnologyofintemalscalaThenthepaperapplysthetesttechnologytoaIPcore一MMCHOSTCOMTROLLERIPconsideringitsparticular
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