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文檔簡介
1、隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展,工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量檢測要求越來越高,新的測量方法也不斷地涌現(xiàn)。本文利用激光作為干涉源,并依據(jù)泰曼—格林干涉原理和Zernike多項(xiàng)式波面重構(gòu)方法,設(shè)計(jì)并實(shí)做了一套干涉測量系統(tǒng),該系統(tǒng)由圖像采集和圖像處理二部分組成。整個(gè)系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡單、量程大及測量精度高等優(yōu)點(diǎn)。
本文的研究工作與內(nèi)容主要包括以下幾個(gè)方面:
(1)根據(jù)工業(yè)應(yīng)用中對材料光學(xué)表面輪廓及參數(shù)測量的需要,分析各種表面輪廓測量方法,確定了以泰
2、曼—格林干涉裝置為基礎(chǔ)的光學(xué)表面形貌測量系統(tǒng)。
(2)依據(jù)泰曼—格林干涉原理設(shè)計(jì)了干涉測量裝置的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。在分析各種影響因素的基礎(chǔ)上,通過計(jì)算,確定相應(yīng)光學(xué)元件的詳細(xì)參數(shù),然后根據(jù)這些參數(shù)制作整套光學(xué)元件支架,形成光學(xué)測量實(shí)驗(yàn)裝置。
(3)提出并實(shí)現(xiàn)了一種單幅干涉圓條紋自動(dòng)化處理方法,并對干涉圖的預(yù)處理技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的研究。針對濾波平滑、二值化、條紋細(xì)化、條紋修補(bǔ)、條紋跟蹤和標(biāo)記等過程中的算法進(jìn)行了研究與改進(jìn),最
3、后獲得一幅連通性好的單像素干涉條紋圖。
(4)研究了光波波前重構(gòu)方法,將Zernike多項(xiàng)式波前重構(gòu)法用于干涉圖擬合光學(xué)干涉波面的處理中,并用Matlab編寫了相關(guān)數(shù)據(jù)處理程序,該程序可以對待測樣品光學(xué)表面形貌及平整度等進(jìn)行分析處理。
(5)通過對浸鎳拋光盤基片的表面和鋁制拋光盤基片的表面對比測量,驗(yàn)證了儀器的精度及實(shí)用性。測量結(jié)果表明:PV的重復(fù)測量精度為0.084λ;RMS的重復(fù)測量精度為0.056λ;系統(tǒng)不確定
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