版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、該論文首先概述了集成電路中靜電釋放的基本概念,引入了三種不同的靜電釋放模型、人體模型、機(jī)器模型和充電器件模型.然后在計(jì)算和分析模擬的基礎(chǔ)上,對(duì)常用器件,如電阻、二極管、晶體管和晶閘管等在大電流高電壓,也就是靜電釋放現(xiàn)象出現(xiàn)的情況下的特殊機(jī)制和工作機(jī)理進(jìn)行了探索.接著,在這些分析的基礎(chǔ)上,為了更方便、更精確地提供在SPICE中進(jìn)行仿真模擬的途徑,建立了針對(duì)靜電釋放環(huán)境下的MOS管和晶閘管的SPICE模型.先計(jì)算給出了MOS管的方程組,根據(jù)
2、這些方程,將新的模型添加到SPICE的器件模型庫(kù)中.對(duì)于晶閘管模型,是建立在原有晶體管模型的基礎(chǔ)上,利用子電路的概念添加新的模型.由于器件尺寸進(jìn)入了亞微米深亞微米尺度,原有的一些成熟的靜電保護(hù)結(jié)構(gòu)已經(jīng)無(wú)法滿足需要.失效的原因有尺寸太大,啟動(dòng)參數(shù)不符等.因此,在該論文最后一章,利用先前曾加以分析建模的MOS管,分別針對(duì)輸入端口、輸出端口和VDD-VSS之間設(shè)計(jì)了不同的保護(hù)結(jié)構(gòu),分析了它們的工作過(guò)程,并在SPICE中進(jìn)行模擬,給出模擬驗(yàn)證結(jié)
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 深亞微米高速CMOS集成電路的ESD研究.pdf
- 深亞微米集成電路的低功耗設(shè)計(jì).pdf
- 深亞微米集成電路可制造性設(shè)計(jì)研究.pdf
- 深亞微米集成電路互連極限的研究.pdf
- 深亞微米集成電路的失效定位技術(shù).pdf
- 超深亞微米CMOS集成電路功耗估計(jì)方法及相關(guān)算法研究.pdf
- 深亞微米集成電路自動(dòng)化流程設(shè)計(jì)方法研究.pdf
- 亞微米和深亞微米IC中的ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)研究.pdf
- 集成電路超深亞微米互連效應(yīng)與物理設(shè)計(jì)研究.pdf
- 深亞微米集成電路的互連建模與時(shí)序優(yōu)化.pdf
- 深亞微米級(jí)集成電路早期失效檢測(cè)的研究.pdf
- 深亞微米EoPDH專用集成電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
- 深亞微米CMOS工藝下模擬集成電路的數(shù)字增強(qiáng)技術(shù)研究.pdf
- 深亞微米集成電路工藝制備中的缺陷問(wèn)題研究.pdf
- 超深亞微米集成電路銅互連可靠性研究.pdf
- 深亞微米集成電路互連RC網(wǎng)絡(luò)約簡(jiǎn)算法分析.pdf
- 深亞微米 CMOS 工藝下模擬集成電路的數(shù)字增強(qiáng)技術(shù)研究.pdf
- 基于深亞微米CMOS工藝的超高速時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)集成電路設(shè)計(jì).pdf
- 深亞微米集成電路結(jié)構(gòu)-工藝及相關(guān)微分析技術(shù)研究.pdf
- 深亞微米集成電路制造中的失效分析應(yīng)用.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論