基于擴(kuò)展相容性掃描樹的響應(yīng)壓縮器設(shè)計.pdf

1、隨著集成電路的集成度、規(guī)模以及復(fù)雜度呈現(xiàn)出幾何級數(shù)的增長，測試所需的費(fèi)用越來越昂貴。這些都給電路測試帶來了極大難度，同時也出現(xiàn)了很多新的問題。一些傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)不能滿足人們對系統(tǒng)可靠性的要求。要解決這些問題，迫切需要采用一些新的測試?yán)碚摵图夹g(shù)。全掃描測試是一種最有效和流行的可測性設(shè)計技術(shù)。全掃描測試技術(shù)將時序電路的測試產(chǎn)生問題轉(zhuǎn)化為組合電路的測試產(chǎn)生問題，降低了測試生成的復(fù)雜度，并提高了故障覆蓋率。但是，測試應(yīng)用時間、測試數(shù)據(jù)量和測

2、試功耗都大大增加。 全掃描測試技術(shù)的測試應(yīng)用時間依賴于最長的掃描鏈長度。掃描樹技術(shù)被提出用來減少測試激勵數(shù)據(jù)量和測試應(yīng)用時間。該測試結(jié)構(gòu)降低了最長的掃描鏈長度（即掃描樹的層數(shù)或高度），從而降低了測試激勵數(shù)據(jù)量和測試應(yīng)用時間。擴(kuò)展相容性掃描樹技術(shù)通過添加邏輯非和異或來擴(kuò)展掃描單元的相容性，進(jìn)一步降低了最長掃描鏈的長度，顯著地減少了測試應(yīng)用時間、測試激勵數(shù)據(jù)量以及測試功耗，但掃描輸出個數(shù)增加，測試響應(yīng)數(shù)據(jù)量變大。 針對擴(kuò)展相

3、容性掃描樹技術(shù)中的缺點(diǎn)，本研究在異或網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)上，設(shè)計了一種適用于擴(kuò)展相容性掃描樹結(jié)構(gòu)的測試響應(yīng)壓縮器。該壓縮器僅由異或網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成。本設(shè)計利用了擴(kuò)展相容性的優(yōu)點(diǎn)以及被測電路的內(nèi)部信息，在不降低故障覆蓋率的情況下，有效地解決了錯誤位擴(kuò)散帶來的問題及用較低的硬件代價減少了掃描輸出的個數(shù)。 全掃描測試技術(shù)中，在進(jìn)行掃描移位時過多的跳變導(dǎo)致功耗比電路正常運(yùn)行狀態(tài)下高很多。因此，阻塞部分掃描鏈時鐘的技術(shù)被提出來以降低測試功耗。此技術(shù)中，在掃