數(shù)字電路冗余故障檢測(cè)方法研究及實(shí)驗(yàn)分析.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計(jì)與加工技術(shù)的飛速發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的測(cè)試成為一個(gè)越來越困難的問題，測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)的理論與技術(shù)已經(jīng)成為VLSI領(lǐng)域中的一個(gè)重要研究方向，在理論和實(shí)踐方面都有十分突出的價(jià)值。 目前工業(yè)界普遍采用電壓測(cè)試和穩(wěn)態(tài)電流測(cè)試方法對(duì)數(shù)字電路進(jìn)行測(cè)試，瞬態(tài)電流測(cè)試方法作為傳統(tǒng)測(cè)試方法的補(bǔ)充手段，被證明能夠檢測(cè)傳統(tǒng)測(cè)試方法無法檢測(cè)的固定型故障——即冗余故障，這對(duì)于數(shù)字電路品質(zhì)的提高具有積極的意義。 本文首先提出一種

2、基于瞬態(tài)電流測(cè)試方法的冗余故障測(cè)試產(chǎn)生算法，該算法利用扇出重匯聚結(jié)構(gòu)當(dāng)中從扇出點(diǎn)到重匯聚點(diǎn)的不同路徑的延時(shí)差，在重匯聚點(diǎn)形成冒險(xiǎn)，以激活故障并將故障效應(yīng)進(jìn)行傳播。將該算法應(yīng)用于ISCAS’85 benchmark電路，模擬結(jié)果表明，在理想條件下該算法能夠檢測(cè)所有冗余故障。 接著，針對(duì)C432電路中的若干冗余故障，用該方法所產(chǎn)生的測(cè)試向量進(jìn)行了Spice仿真。仿真結(jié)果表明，用該方法所產(chǎn)生的測(cè)試向量對(duì)能夠使無故障電路和故障電路之間瞬