數(shù)字電路抗老化方法研究.pdf

1、微電子技術(shù)的高速發(fā)展和工藝尺寸的持續(xù)減小，促使數(shù)字電路的可靠性受到嚴重的威脅。由NBTI(Negative Bias Temperature Instability)效應(yīng)導(dǎo)致的老化在很大程度上影響到了數(shù)字電路的生命周期，使數(shù)字電路的性能退化。數(shù)字電路抗老化相關(guān)方法研究對保證數(shù)字電路可靠性已經(jīng)顯得尤為重要，本文以保證數(shù)字電路可靠性為出發(fā)點，重點針對數(shù)字電路的抗老化方法進行了研究，主要工作如下:
　　1、詳細地介紹了影響數(shù)字電路生命周

2、期的老化效應(yīng)，對其產(chǎn)生機理、數(shù)學(xué)模型和防護方法進行了詳細分析。重點闡述了幾種數(shù)字電路典型的靜態(tài)老化防護方法，并分析了它們的優(yōu)缺點。
　　2、提出了一種考慮電路拓撲結(jié)構(gòu)的老化關(guān)鍵門高效選擇方法，精選出對電路老化最關(guān)鍵的門集合?？朔藗鹘y(tǒng)關(guān)鍵門選擇方案時間開銷大和對電路老化過度防護的兩個問題，對ITC99和ISCAS標準電路的實驗結(jié)果表明，在保證電路具有相同工作壽命的前提下，相比已有的關(guān)鍵門查找方法，本文方案查找效率平均提高了3.97