面向MVI的SOC測試調(diào)度方法研究.pdf

1、隨著系統(tǒng)芯片（SOC,System on Chip）集成度提高、功能復(fù)雜度增加，低功耗SOC設(shè)計成為了主流的設(shè)計理念。多電壓域（MVI,Multiple Voltage Island）的SOC通過動態(tài)電壓調(diào)整技術(shù)（DVS,Dynamic Voltage Scaling）實現(xiàn)大幅度的降低系統(tǒng)動態(tài)功耗。然而，MVI的SOC測試挑戰(zhàn)成為了限制其發(fā)展的瓶頸問題。在保證測試故障覆蓋率的前提下，如何高效完成系統(tǒng)級MVI的SOC測試成為了研究的熱點和

2、難點問題。
　　MVI的SOC測試具有測試任務(wù)多、任務(wù)間約束條件多等特點。本文從MVI的SOC最小測試單元的測試時間優(yōu)化、測試資源分配優(yōu)化、測試任務(wù)間約束這三個方面著手來提高MVI的SOC測試效率、降低其測試時間成本。
　　MVI的SOC最小測試單元是可復(fù)用IP核。為降低MVI的SOC最小測試單元的測試時間，本文分析研究了IP核掃描鏈平衡設(shè)計技術(shù)并提出了基于動態(tài)參考值和平均值的二次分配算法。國際標準測試集ITC’02SOC上

3、的對比實驗結(jié)果表明，本文提出的啟發(fā)式方法能很好解決掃描鏈平衡設(shè)計問題，有效縮短MVI的SOC最小測試單元的測試時間。
　　測試資源分配優(yōu)化也是提高MVI的SOC測試效率的有效途徑。優(yōu)秀的測試資源分配策略能高效合理的指定IP核與測試資源間所屬關(guān)系來提高測試并行性。本文提出了差分進化算法（DE,Differential Evolution Algorithm）來解決這一資源優(yōu)化問題。概率操作和混合變異策略等改進能保證DE算法的高效性。