針對SOC測試數據壓縮的編碼方法研究.pdf

1、隨著集成電路的設計趨勢正在快速的朝向片上系統(tǒng)SoC(System-on-a-Chip)設計方法的轉變，逐步的將各種預先設計和驗證的芯核集成在一個芯片上，這樣增加了設計產量且縮短了產品投放市場的時間，但是同時給測試也帶來了挑戰(zhàn)。測試數據的不斷增加、測試時間的增長使得測試的成本越來越大，為了緩解這些問題，必須對測試數據進行壓縮。本文從幾種經典的測試數據壓縮方法入手，對各種方法的優(yōu)缺點進行了分析，總結出了每種方法各自的適用范圍，并在此基礎上提

2、出了部分改進。本文主要工作如下： 1.總結了當前各種編碼壓縮技術，對每種方法的特點做出了總結和分析，著重分析了交替與連續(xù)長度碼和折疊計數器這兩種方法，總結其適用范圍，找出其不足之處，并在后邊的工作中對其作改進 2.對測試集差分向量中的連續(xù)的0進行編碼是一種很經典的方法。但是不能很好的適應差分向量中連續(xù)的1和10交替的情況，交替與連續(xù)長度碼可以很好的解決這個問題。本文對測試集進行預處理，使得預處理后的測試集能更好的用交替與

3、連續(xù)長度碼進行編碼，實驗結果表明，本方法可以有效的實現對測試數據的壓縮。 3.針對傳統(tǒng)的折疊計數器技術需要重新播種的問題，本文給出了一種方法，它不需要進行重新播種，當一個折疊集生成完畢之后，可以通過在若干個中間折疊集的跳轉跳轉到下一個折疊集。文中將用數學方法證明這樣的中間折疊集是存在的，并且經過的折疊集的個數最少。本方法硬件開銷較小，通訊協(xié)議簡單，但是其壓縮效果非常明顯。本方法可以利用折疊計數器的技術處理孤立點較多的問題，擴展了