SoC測試數據壓縮方法研究——壓縮編碼技術和LFSR重播種技術.pdf

1、隨著基于IP核復用技術的SoC設計方法的發(fā)展，極大地簡化了芯片的設計過程并且很大程度地縮短了產品投放市場的時間。但是隨著SoC集成IP核數目的增多，測試數據量和測試施加時間急劇增加。同時，由于自動測試設備(ATE)相當昂貴，通過提高傳統(tǒng)自動測試設備的存儲容量以及增加其傳輸帶寬的途徑來解決該問題，測試成本將顯著上升。如今，SoC的測試問題已經受到越來越廣泛的關注。解決SoC測試數據量過大的問題，其中最直接有效的方法就是對測試數據進行壓縮。

2、進一步說，SoC芯片的高集成度使測試的復雜性迅速提升，使得測試壓縮技術同樣面臨巨大的挑戰(zhàn)。如何在SoC芯片的環(huán)境下有效壓縮迅猛增加的測試數據量，提高壓縮效率已經成為攻克挑戰(zhàn)的核心策略。
　　本論文針對SoC測試數據壓縮方法的改進提出了兩種新的方案，其中主要的工作有：
　　(1)基于測試編碼的壓縮技術，本文提出了一種新的編碼方案--改進的翻轉連續(xù)序列編碼(ITCS)，該方法的核心思想是基于犧牲額外的擴展編碼位來換取原始數據無關

3、位賦值和最優(yōu)化編碼選擇的自由度。基于該編碼的數據壓縮方法能夠有效地壓縮測試數據的存儲量，減少測試施加的時間。針對ISCAS-89基準電路測試集的實驗結果表明，所提出的ITCS編碼方案，其壓縮效果優(yōu)于EFDR編碼，是一種相當高效的壓縮方法。
　　(2)基于LFSR重播種的壓縮技術，本文提出分組位固定VL-LFSR重播種技術來提升測試壓縮的編碼效率。將有偏向性的輸入通過一定的分組算法得到位固定實現的最佳分組，按分組將相容位直接固定成確

4、定的邏輯值，成為編碼無關位，通過這樣的操作，能夠使需要用LFSR重播種結構來編碼的確定位的數據量明顯減少。最后對ISCAS-89基準電路MinTest測試集進行實驗，結果表明編碼效率超過其他LFSR重播種方法，為SoC測試數據壓縮提供了一種有效的解決方案。
　　本文提出的改進的翻轉連續(xù)序列編碼技術和分組位固定VL-LFSR重播種技術能夠有效削弱日益膨脹的集成電路測試規(guī)模和測試速度對測試硬件提出的苛刻要求，極大程度地節(jié)省了測試設備的