基于FDR編碼的高效測試數(shù)據(jù)壓縮掃描樹結(jié)構(gòu)研究.pdf

1、電子系統(tǒng)廣泛應用于生活的各個角落，而電子系統(tǒng)的關(guān)鍵部件是集成電路(IC)。近幾十年來，隨著超大規(guī)模集成(VLSI)技術(shù)的迅猛發(fā)展，芯片中晶體管的數(shù)目成指數(shù)倍增加，集成電路的測試日益成為一個挑戰(zhàn)。全掃描設(shè)計是最重要的可測性設(shè)計(DFT)方法之一。其主要思想是通過在觸發(fā)器之間添加一些邏輯，使全部觸發(fā)器具有全可控性和全可觀察性，因此它可以降低測試復雜度，但是它的測試時間很長、測試數(shù)據(jù)量非常高。
　　 FDR是一種單游程編碼方法，可以有

2、效的降低測試數(shù)據(jù)量;掃描樹技術(shù)是一種廣播式的壓縮方法，只需要一個掃描輸入就可以驅(qū)動多條掃描鏈，可以有效的降低測試應用時間和測試數(shù)據(jù)量。但是，它們的壓縮效果不是很理想。
　　 為了進一步降低測試應用時間和測試數(shù)據(jù)量，本文提出一種基于FDR編碼高效的測試數(shù)據(jù)壓縮掃描樹結(jié)構(gòu)。首先，本文分析了掃描樹和FDR編碼技術(shù)結(jié)合的高效性;然后，研究掃描單元合并時無關(guān)位X的填充問題（填0或1）并考慮確定位最終是0還是1對FDR編碼的影響，本文提出了

3、一種掃描樹構(gòu)造方法來降低確定位的數(shù)目，提高FDR編碼的效率，進一步降低測試數(shù)據(jù)量;此外，本文考慮了布線開銷，在提高壓縮效率的基礎(chǔ)上優(yōu)化了線長開銷。最后，對所提出的方法進行了驗證，實驗結(jié)果表明，對于大的ISCA'89電路，在只考慮壓縮率的情況下本文提出掃描樹與FDR，ALT-FDR結(jié)合的方法比僅使用FDR，ALT-FDR平均分別多降低了16.65％，14.73％，提出方法也優(yōu)于當前的編碼的方法。在同時考慮壓縮率和布線開銷時，線長平均降低了