數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法的研究.pdf

1、集成電路的發(fā)展是當(dāng)代科技最引人注目的焦點(diǎn)之一,它的應(yīng)用已深入到人類(lèi)生活的方方面面,對(duì)集成電路可靠性的要求越來(lái)越高,特別是在航空航天、工業(yè)控制、金融、醫(yī)療等領(lǐng)域,一個(gè)小小的故障就可能造成令人無(wú)法挽回的損失,因此為保證集成電路可靠性的測(cè)試越來(lái)越受到人們的關(guān)注.由于集成度的迅速增長(zhǎng),使得對(duì)其進(jìn)行的測(cè)試變得越來(lái)越困難,因此在測(cè)試領(lǐng)域所展開(kāi)的一系列研究有著重大的理論意義和實(shí)用價(jià)值. 本論文針對(duì)數(shù)字系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮展開(kāi)了研究.測(cè)試編碼壓縮

2、有效地減少了數(shù)字電路測(cè)試時(shí)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量和測(cè)試時(shí)間,緩解了因集成度的迅速提高所帶來(lái)的海量測(cè)試數(shù)據(jù)量,與外部測(cè)試設(shè)備有限的帶寬之間的矛盾,引起了學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的廣泛關(guān)注.本文的主要工作如下: 首先詳細(xì)論述了數(shù)字電路測(cè)試的相關(guān)概念,及其發(fā)展到SoC測(cè)試后面臨的挑戰(zhàn),從測(cè)試源劃分的角度,分析了SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮的兩種研究方法,將現(xiàn)階段主流的數(shù)據(jù)編碼壓縮方案做了新穎的、嘗試性的劃分. 接著,提出了基于數(shù)據(jù)塊的差分標(biāo)記碼,將差分技術(shù)