系統(tǒng)芯片SoC測試數據壓縮方法研究.pdf

1、微電子技術的迅速發(fā)展促進了系統(tǒng)芯片(SoC)的出現(xiàn)，并由此將集成電路帶入了一個新的發(fā)展時期。由于SoC采用的是以復用IP芯核為主的設計技術，因而既能加快開發(fā)進度，又能提高系統(tǒng)整體性能。但隨著SoC集成IP核數目的增多，功能越來越復雜，SoC的測試數據量也隨之急劇增加，其測試訪問也變得更加困難，進而也就為SoC的測試帶來了更大的挑戰(zhàn)。對此，本論文圍繞SoC測試數據壓縮問題展開了研究。 編碼壓縮技術作為測試數據壓縮方法的一個重要分支

2、，已被廣泛采用。本文分析了一些典型的編碼技術，雖然壓縮效率比較高，但存在解壓非常復雜的問題。針對這個問題，本文提出了變長一定長的距離標記編碼壓縮方法，這種方法不僅數據壓縮效率高，而且通訊協(xié)議簡單，解壓電路硬件開銷小。 本文提出的距離標記壓縮方法，首先根據測試集無關位較多的特點，采用多掃描鏈相容壓縮預處理測試數據，實現(xiàn)多掃描鏈測試數據的共享。對應多掃描鏈相容壓縮的解壓硬件成本極小，只需一組扇出線，但它所獲得的測試數據壓縮率卻很可觀

3、。 測試向量的生成算法決定了測試集具有相鄰向量之間不同數值位較少的特征，采用基于差分向量的編碼壓縮方法可以達到較高的數據壓縮率。因此使用基于差分向量的距離標記法編碼預處理后的測試數據，可以進一步提高數據壓縮率。該方法比其他類似的編碼方法最大的優(yōu)勢是它的碼字是定長的，這就大大降低了解碼的復雜性。 此外，本文也探討了多核并行測試問題，提出了直接合并測試集的方法。先采用多掃描鏈相容壓縮預處理總測試集，接著使用改進的距離標記法壓