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文檔簡介
1、靜電敏感器件的防靜電靜電敏感器件的防靜電1摩擦起電序列靜電是一種常見的物理現(xiàn)象。當兩種不同的材料發(fā)生摩擦時,因為電子的轉(zhuǎn)移會產(chǎn)生靜電電荷。得到電子的物體帶負電,失去電子的物體帶正電。這一過程稱為摩擦起電。研究結(jié)果表明,不同的物質(zhì)摩擦起電的序列按如下順序排列??諝狻耸帧蕖妹AА颇浮税l(fā)一尼龍一羊毛→鉛→絲綢→鋁一紙→棉花一鋼鐵→木→琥珀→蠟→硬橡膠→鎳/銅→黃銅銀→金鉑→硫磺→人造絲→聚酯→賽璐珞→奧綸→聚氨酯→聚乙烯→聚丙
2、烯→聚氯乙烯→二氧化硅→聚四氟乙烯以上任意兩種物質(zhì)發(fā)生摩擦后,位于較前的物質(zhì)一般帶正電,而位于較后的物質(zhì)則帶負電,即電子從位于前面的物質(zhì)轉(zhuǎn)移到位于后面的物質(zhì)。但這種排列不是絕對的,也不能確定產(chǎn)生電荷的數(shù)量。起電的結(jié)果除廠取決于物質(zhì)本身外,還與材料表面的清潔程度,環(huán)境條件,接觸壓力,光潔程度,表面大小,摩擦分離的速度等有關(guān)。除了不同的物質(zhì)間摩擦會產(chǎn)生靜電外,摩擦起電也能在相同材料間發(fā)生。例如當把兩塊密切接觸的塑料(如聚乙烯袋)分開時,能產(chǎn)
3、生很高的靜電(可達有一萬伏以上)。2典型的靜電電壓參考值3典型的靜電敏感器件典型的敏感器件和它們的靜電破壞電壓如表2所示:250pf時,300v就可能損壞器件了。后來日本有些器件制造廠采用更為嚴格的實驗電路如圖2所示:這種200pf,0Ω實驗電路放電電流更大,對器件耐靜電的要求更高。5靜電損壞一般機理和內(nèi)部保護網(wǎng)絡1)電壓去穿和功率擊穿半導體器件內(nèi)有PN結(jié),MOS是金屬氧化物半導體結(jié)構(gòu),它的介電層是由一層非常薄的SiO2絕緣層所構(gòu)成,電
4、壓擊穿是絕緣層和PN結(jié)在過電壓下的電壓擊穿。集成電路MOS是指CMOS(ComplementaryMOS),PMOS(PChannalMOS),NMOS(NChannalMOS)還有VMOS(VerticalgrooveMOS)HMOS(HighdensityMOS)等,CMOS介,止長典型的厚度是1000埃約01μm左右,二氧化砧層的耐壓強度一般在1lO6Vcm1107V/cm之間,相應于01μm厚度下,耐樂在80100V之間,而新技
5、術(shù)MOS器件因為介電層更薄,在2580V之間,如VMOS器件耐壓只有30V,有的器件如千兆位存貯器芯片耐壓只有1020V,電壓擊穿開始時往往先在某一過電壓下在介質(zhì)的個別點上出現(xiàn)所謂的網(wǎng)點擊穿,以后只要在較低的電壓下即可出現(xiàn)大片區(qū)域的雪崩式擊穿,造成器件的永久性損毀。功率擊穿則與靜電放電脈沖有關(guān),它與瞬時脈沖的形狀,持續(xù)時間和能量積聚有關(guān)。靜電放電電流流過集成電路內(nèi)部引起PN結(jié)的溫度升高,或超過其熔化點,有的可能燒毀內(nèi)部連接導線,有的引起
6、合金化或造成金屬的擴散,最終造成器件永久性的破壞。另一種可能的結(jié)果是嚴重的電老化而成為隱患——即通常所稱的“軟擊穿”,往往當時并未發(fā)現(xiàn)器件有明顯的損壞,但在今后隨時都可能出現(xiàn)失效,對今后電子設備的使用和維修帶來極大的隱患。2)保護網(wǎng)絡設計為了提高MOS集成電路器件本身的抗靜電性能,許多MOS器件制造廠在MOS器件內(nèi)設計保護電路。保護電路主要采用高速開關(guān)二極管、晶體三極管、齊鈉二極管、雙三極管等,還用電阻進行限流或分流,提供靜電放電通路。
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