定數(shù)截尾缺失數(shù)據(jù)下雙參數(shù)指數(shù)分布的統(tǒng)計推斷.pdf

1、隨著科學技術(shù)的發(fā)展，產(chǎn)品的可靠性越來越受到人們的重視。由于產(chǎn)品的壽命是一個隨機現(xiàn)象，所以確定一種產(chǎn)品的可靠性指標最后都歸結(jié)為一個統(tǒng)計推斷問題。為了弄清被測產(chǎn)品的壽命分布，求出各項可靠性指標，研究產(chǎn)品失效機理以便對提高產(chǎn)品可靠性提出建議，常常需要進行壽命試驗，而壽命試驗按樣品失效情況又分為完全壽命試驗和截尾壽命試驗，通常后者運用較為廣泛。 在用統(tǒng)計方法處理這些實際問題時，常會遇到數(shù)據(jù)缺失情況，譬如在產(chǎn)品壽命試驗中，由于試驗設備、觀

2、測手段或有其他方面的困難造成某些試驗數(shù)據(jù)丟失或未觀測到的現(xiàn)象等。這樣我們得到的是“缺失數(shù)據(jù)”。若由于部分數(shù)據(jù)缺失就重作試驗一般是不值得的，有時甚至是不可能的。 如何對“缺失數(shù)據(jù)”后的現(xiàn)有數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析，是一個特殊的、有較大難度的問題。因此，尋找在缺失數(shù)據(jù)條件下對不完全數(shù)據(jù)的處理進行科學、有效的分析方法，現(xiàn)已成為可靠性分析的一個新的十分重要的領域。 在定數(shù)截尾缺失數(shù)據(jù)的情況下，似然函數(shù)的形式很復雜，很難對參數(shù)進行估計。本