中學數(shù)學學困生與學優(yōu)生元認知技能發(fā)展差異研究.pdf

1、元認知技能發(fā)展落后是學習困難學生數(shù)學成績落后的十分重要的原因。探討學優(yōu)生與學困生數(shù)學元認知技能的發(fā)展過程是否存在區(qū)別，從而在教學中有針對性地關注學困生的元認知技能發(fā)展，提高他們的學業(yè)成績，能有效地防止一部分數(shù)學學困生的出現(xiàn)。我們從延慶一中高一的三個實驗班選取了六名數(shù)學學優(yōu)生，從三個普通班選取了六名數(shù)學學困生，進行了連續(xù)八周的數(shù)學元認知技能測試，結果表明：(1)學優(yōu)生的數(shù)學元認知技能明顯高于學困生；(2)與學困生相比，學優(yōu)生的數(shù)學元認知技

2、能較少受到問題難度影響；(3)隨時間推移，學優(yōu)生與學困生的數(shù)學元認知技能都在提高，預測，計劃和評價技能有類似發(fā)展趨勢，一周內迅速提高，而后發(fā)展趨于平緩，兩者發(fā)展差異不明顯；學優(yōu)生的監(jiān)控技能一周內迅速發(fā)展，在后續(xù)時間內仍有較大提升，學困生監(jiān)控技能一周內有較快發(fā)展，但后續(xù)提高不明顯，導致兩者差異越來越大；(4)問題難度對于學優(yōu)生與學困生的預測與評價技能發(fā)展有類似影響：在實驗時間內，與學優(yōu)生一樣，學困生對于容易問題與難問題的預測技能差異與評價