Gluma脫敏劑對(duì)牙本質(zhì)粘接界面納米滲漏和剪切強(qiáng)度的影響.pdf

1、目的:本課題采用體外試驗(yàn)的方法，比較樹脂充填前行Gluma脫敏劑脫敏處理對(duì)樹脂牙本質(zhì)粘接界面的納米滲漏及剪切強(qiáng)度的影響，從而為臨床牙本質(zhì)粘接劑選用提供參考依據(jù)。
　　方法:選擇新鮮離體人磨牙60顆，用高速金剛砂車針在大量水霧冷卻下磨除牙冠表面牙釉質(zhì)，制備成粘接面積（統(tǒng)一以牙合面為實(shí)驗(yàn)粘接面）4×4mm2大小的牙本質(zhì)試件。將標(biāo)本隨機(jī)分成A組和B組，各組又分為三小組，共六組，每組隨機(jī)分有10個(gè)離體牙標(biāo)本。A組分別用Prime&Bond

2、 NT全酸蝕粘接劑、XenoⅢ自酸蝕粘接劑和AdperTM Easy One自酸蝕粘接劑粘接;B組在使用各類粘接劑前經(jīng)Gluma脫敏劑處理。樹脂填充4mm。將標(biāo)本置于37℃蒸餾水中保存24小時(shí)，待材料完全固化。所有標(biāo)本用白蠟封閉根尖孔，在距粘接界面邊緣1mm之外的所有牙體表面，均勻地涂布無色快干指甲油兩次，自然晾干。將標(biāo)本浸入500g/L、pH=9.5的氨化硝酸銀溶液中，避光保存24小時(shí)。之后熒光燈下照射顯影8小時(shí)，使銀離子充分還原成金

3、屬銀。顯影完成后，流水沖洗5min，直至沖洗液中無肉眼可見黑色顆粒。在流水冷卻下，用低速金剛砂片將所有標(biāo)本沿頰舌向平行牙體長(zhǎng)軸從牙合面中央切開。每個(gè)切開的標(biāo)本，其中一半用于電鏡下觀察縱剖面納米滲漏情況，另一半用于測(cè)試剪切粘接強(qiáng)度。
　　將用于觀察納米滲漏的試件沿頰舌向從中心處沿與牙長(zhǎng)軸平行的方向片切，得到寬約1mm的試件，將試件沿與粘接界面垂直的方向用不同表面粒度的油磨石在流水沖洗下由粗到細(xì)依次打磨，直至試件表面有光澤為止。顯微鏡

4、下觀察粘接試件，剔除有微裂紋或牙本質(zhì)端、樹脂端剩余長(zhǎng)度不足3mm的試件。選取合格試件按要求制作掃描電鏡觀察標(biāo)本，在掃描電鏡(SEM)下觀察。記錄掃描電鏡高倍圖像。
　　把60個(gè)用于做剪切實(shí)驗(yàn)的標(biāo)本固定在自凝樹脂中，露出牙面，牙體長(zhǎng)軸與自凝樹脂底座垂直。把試樣固定在萬能試驗(yàn)機(jī)剪切夾具中，選擇合適的加載頭，將其緊貼牙本質(zhì)粘接面，加載方向與其平行，剪切速度為0.5 mm/min，電腦記錄最大剪切應(yīng)力值，根據(jù)樣本粘接面積，按下式計(jì)算剪切粘

5、接強(qiáng)度:Mpa=N（牛頓）/S(mm2)，比較各組剪切強(qiáng)度。
　　將剪切強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)所記錄數(shù)據(jù)輸入SPSS16.0統(tǒng)計(jì)軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)分析。采用兩樣本t檢驗(yàn)對(duì)A、B兩組間對(duì)應(yīng)組別進(jìn)行比較，用多樣本方差分析在A、B兩組組內(nèi)進(jìn)行兩兩比較。檢驗(yàn)水準(zhǔn)α取0.05，P＜0.05為差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。
　　結(jié)果:
　　1、納米滲漏:A組的1、2、3組均有銀離子滲漏，B組銀離子滲漏較A組明顯減少。各組粘接均較緊密，未見明顯裂隙。納米滲漏主要

6、集中在混合層，全酸蝕粘接劑組較自酸蝕粘接劑組銀離子滲漏多，呈線狀或片狀。
　　2、剪切粘接強(qiáng)度:A組內(nèi)，A1組平均剪切強(qiáng)度最高;B組內(nèi)，B1組平均剪切強(qiáng)度最高;A1、B1兩組間無顯著性差異;A2組平均剪切強(qiáng)度小于B2組，兩組間有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義;A3組平均剪切強(qiáng)度小于B3組，兩組間有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。A組內(nèi)A1組平均剪切強(qiáng)度大于A2組，有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義;A1組平均剪切強(qiáng)度大于A3組，有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義;A2組與A3組間平均剪切強(qiáng)度無顯著性差異。B組內(nèi)三