二維BIST技術(shù)及其低功耗測試生成的研究.pdf

1、隨著深亞微米工藝技術(shù)的發(fā)展,集成電路的工藝尺寸日益減小,數(shù)字電路的集成度與復(fù)雜度日益增加,集成電路的測試變得尤為困難,電路的可測性設(shè)計(Design For Test,DFT)成為解決測試問題的主要手段,其中內(nèi)建自測試(Built-in Self Test,BIST)技術(shù)是解決大型復(fù)雜電路的有效方法,它通過在芯片內(nèi)部集成測試矢量生成模塊和響應(yīng)分析模塊,使得芯片的測試變得快速、高效,進而成為 DFT的一種主要測試方法。在使用BIST過程中

2、,測試矢量故障覆蓋率、測試功耗、測試時間以及測試結(jié)構(gòu)的硬件開銷,成為當今BIST技術(shù)的主要研究對象。
　　本文針對大規(guī)模組合電路測試,主要研究了BIST技術(shù)中二維線性反饋移位寄存器(Two-Dimension Linear Feedback Resister,2-D LFSR)的測試生成結(jié)構(gòu),并結(jié)合插入式的低功耗矢量生成方法,提出了一種可配置2-D LFSR的低功耗測試矢量生成結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)通過配置 LFSR在各個位的反饋網(wǎng)絡(luò),就能

3、夠生成任意給定的確定性測試矢量,在配置反饋網(wǎng)絡(luò)時,利用矩陣理論,分別提出了矢量的劃分算法和尋找最優(yōu)通解的搜索算法,這樣就能用較小的硬件開銷,獲得具備較高故障覆蓋率的測試矢量。在對確定性測試矢量進行低功耗設(shè)計過程中,利用環(huán)形移位寄存器,逐位的比較確定性測試矢量對間的差異,并在其中插入了若干單跳變位的測試矢量,以降低系統(tǒng)的各類功耗。在 BIST系統(tǒng)響應(yīng)分析模塊的設(shè)計中,選用了16位并行輸入特征分析器將測試響應(yīng)數(shù)據(jù)壓縮為特征,以保證診斷效率。