低功耗SoC測試技術及基于狀態(tài)種子的BIST策略研究.pdf

1、目前，集成電路測試面臨兩個大的問題：測試時間過長和測試功耗過高。而隨著集成電路不斷復雜化，測試變得更加困難。特別是對基于復用思想的SoC，雖然這種設計思想有利于減少設計成本，縮短上市時間，但測試這樣復雜的系統(tǒng)變得異常困難。所以如何對集成電路進行高效的測試變得越來越重要。 本文以縮短測試時間和減少測試功耗為目標，首先介紹了一種新的低功耗的BIST結構，并在此基礎上提出了一種新的基于低功耗BIST結構的系統(tǒng)芯片測試方法。這種測試方法

2、的主要思想是：將系統(tǒng)芯片中的多個核分成若干個大小不同的組，每個組使用一個由線性反饋移位寄存器和映射邏輯組成的低功耗內(nèi)建自測試結構來進行測試，其中，線性反饋移位寄存器和映射電路是用來產(chǎn)生有用測試向量的，也就是說，通過映射邏輯可以將無貢獻的測試向量過濾掉。組與組之間的核進行并行測試，組內(nèi)各個核進行串行測試。整個結構在給定的測試功耗限制下，以測試時間為優(yōu)化目標，使測試時間最短。這種測試方法的特點是：首先本方法不用外部ATE，也不依賴片上存儲設

3、備；其次本方法是用低功耗BIST來產(chǎn)生SoC測試時所需要的測試向量，大大減少了測試功耗、減少了測試時間；第三，本結構中，部分核共用一個BIST結構，減少了硬件開銷。實驗結果表明本測試方法不僅大大減少了測試時間和功耗，而且代價不大。 接著本文又提出了一種新的基于狀態(tài)種子的BIST策略，這種策略的主要思想是：通過統(tǒng)計LFSR的有用狀態(tài)及其運行時間，發(fā)現(xiàn)LFSR的有用狀態(tài)和運行時間所需要的存儲空間很小，所以本策略是直接存儲LFSR的狀