光干涉測試中的抗振技術研究.pdf

1、該文分析了干涉測量技術中存在的主要誤差來源,通過對通常環(huán)境下振源特性的分析,得到了對干涉測試影響較大的振源的頻率范圍主要在30Hz以下,確定了抗振補償?shù)哪繕撕图夹g指標是使干涉儀的振動頻率＜50Hz,振幅～1μm.創(chuàng)新性地提出了一種新的自適應抗振技術--條紋細分測振技術,可以探測到很?。ㄔ撐闹袨?/400個條紋間距）的條紋移動量.建立了位相調制條紋細分技術的數(shù)學物理模型,提出了用硬件實現(xiàn)條紋移動探測技術途徑.建立了一套閉環(huán)的自適應抗振干涉

2、測試硬件系統(tǒng),成功實現(xiàn)了實時地探測干涉條紋移動量和移動方向.提出了填充脈沖數(shù)預設定的方法,可以將干涉條紋鎖定在任意設定的位相位置,實現(xiàn)了用PZT同時實現(xiàn)振動補償和移相測量;深入分析討論了PZT的延遲問題,創(chuàng)造性地提出了用多次逼近補償?shù)霓k法,給出了反饋補償?shù)乃惴?解決了補償過程中存在的系統(tǒng)不穩(wěn)定和過補償?shù)膯栴}.詳細分析了影響抗振效果的主要因素,定量地給出了其對結果的影響的大小.在實驗系統(tǒng)中,設計并實現(xiàn)了帶耦合系統(tǒng)的單模光纖導光系統(tǒng),使光源