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1、現(xiàn)代集成電路的集成度和工作頻率的不斷提高，給電路分析和驗(yàn)證提出了新的挑戰(zhàn)。為了解決這些問題，已經(jīng)有很多的學(xué)者做了大量的研究工作，但是還存在著不少困難。本文涉及到電路分析的兩個(gè)重要方面：互連線寄生參數(shù)提取和帶參數(shù)模型降階?！ ≡诨ミB線參數(shù)提取方面，我們將數(shù)學(xué)上的變方向隱式方法(ADI)引入到時(shí)域有限差分法(FDTD)上，解決了將ADI-FDTD方法應(yīng)用于高速芯片內(nèi)互連線的電磁場(chǎng)計(jì)算中的很多關(guān)鍵性問題，包括源的產(chǎn)生方案及其數(shù)值結(jié)構(gòu)，具體邊
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