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文檔簡介
1、電子器件的內(nèi)部噪聲(特別是以1/f噪聲為代表的低頻噪聲)是制約器件靈敏度和檢測精度的一個關(guān)鍵指標(biāo),同時也是表征器件質(zhì)量和可靠性的一個重要敏感參數(shù)。因此,對電子器件內(nèi)部噪聲參量的提取和分析有著重要的工程意義。 本論文的主要工作及結(jié)論如下: 1、根據(jù)實驗室實際測試電子器件低頻噪聲的參量分析需要,對實驗室的原器件低頻噪聲譜全參數(shù)擬合軟件進(jìn)行了優(yōu)化,采用首先尋得轉(zhuǎn)折頻率工的方法,擬合含g-r成份的低頻噪聲譜,精確提取了其中的6個
2、參數(shù),其擬合優(yōu)度比原擬合軟件得到的結(jié)果提高了3個百分點。 2、小波非常適合對1/f噪聲的分析。雖然MATLAB帶有小波分析工具箱,但用它來專門分析器件噪聲,不僅很繁瑣,而且可行性也不理想。我們基于 MATLAB的GUIDE平臺開發(fā)了第一版電子器件噪聲的小波分析軟件wAEN 0.1 f WAEN:Wavelet Analyzer for Electronic Noise),把噪聲的小波分析方法都集成在WAEN 0.1上,并具有很好
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