聲表面波器件的制備及其性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、由于聲表面波器件具有小型化、多功能、高頻率、高可靠性和數(shù)字輸出等特性,目前已被廣泛應(yīng)用于移動通信、航空航天、雷達、電子對抗、遙控遙測、廣播電視等各類軍用和民用電子系統(tǒng)中。因其應(yīng)用潛力巨大,發(fā)展前景廣闊,故對聲表面波器件的研究具有重大的意義。 本文主要是對聲表面波器件的制備工藝進行探索,同時,對由聲表面波器件構(gòu)成的振蕩電路進行研究。對于聲表面波器件的制備主要是高質(zhì)量壓電基底的制備和作為激勵、檢測信號用的叉指換能器的設(shè)計與制做。對于

2、振蕩電路的研究主要集中于電路的設(shè)計與仿真。 選用PZT壓電薄膜作為聲表面波器件的壓電材料層,基片采用的是Au/Cr/SiO2/Si的多層膜結(jié)構(gòu)。通過添加黏結(jié)劑聚乙烯吡咯烷酮(PVP),成功的制備出致密、無裂痕的PZT壓電薄膜,經(jīng)XRD測試,證明了該薄膜具有較好的取向性。在PZT壓電薄膜的制備過程中,對富鉛度和黏結(jié)劑的濃度等關(guān)鍵問題進行了研究。實驗證明,在不添加黏結(jié)劑的情況下,當(dāng)退火溫度為700℃時,PZT薄膜中鉛的含量幾乎沒有損

3、失。為了既保證PZT薄膜不開裂,又保證PZT薄膜具有一定的厚度,經(jīng)過大量的反復(fù)實驗,最終將黏結(jié)劑的濃度選定為0.001~0.0015mol/L。最后,對所制備的PZT薄膜的電性能進行了研究,如電滯回線、壓電系數(shù)和相對介電常數(shù)。其中,Pr=25μc/cm2,Ec=25KV/cm;d33(eff)=210pC/N;εr=1130a叉指換能器的主要設(shè)計參數(shù)包括:叉指對數(shù)N、叉指周期節(jié)長度P、指寬d、指間距b、聲孔徑w和中心間距L等。本文對各參

4、數(shù)設(shè)計進行了理論分析,并結(jié)合實驗室現(xiàn)有的工藝條件,設(shè)計出指寬為10μm的叉指換能器的版圖。先采用超微粒干版試做版,但由于超微粒干版的質(zhì)量問題,最后采用47所提供的鉻版。對實驗室現(xiàn)行的光刻工藝進行了細節(jié)上的改良,最后成功的制備出聲表面波器件。但叉指換能器經(jīng)SEM測試發(fā)現(xiàn),指寬約為12μm,指間距約為8μm。兩者與設(shè)計值相比,略有偏差,在論文中對可能產(chǎn)生偏差的原因進行了分析。 對于聲表面波振蕩電路的研究,側(cè)重于對振蕩電路的設(shè)計與仿真

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