Cerec 3D-inlab MC XL系統(tǒng)全瓷冠邊緣和內(nèi)部適合性的實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、目的：研究不同光學(xué)印模法及不同瓷材料對(duì)Cerec3D/inlab MCXL系統(tǒng)中全瓷冠邊緣和內(nèi)部適合性的影響，為臨床應(yīng)用提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)。
　　 方法：制備一右下第一磨牙全冠預(yù)備體模型，復(fù)制64個(gè)代型，采用隨機(jī)抽樣法，8個(gè)用于直接法采集光學(xué)印模，制作8個(gè)Cerec Blocs全瓷冠，24個(gè)用于間接法采集光學(xué)印模，分別加工制作8個(gè)Cerec Blocs、Incoris AL、In-ceramYZ冠。剩余32個(gè)代型用于全瓷冠粘結(jié)。然后采

2、用修正USPHS標(biāo)準(zhǔn)和SEM法評(píng)價(jià)直接法和間接法Cerec Blocs全瓷冠的邊緣和內(nèi)部適合性；SEM法評(píng)價(jià)間接法中不同瓷材料冠的邊緣和內(nèi)部適合性。SAS9.1軟件對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
　　 結(jié)果：修正USPHS法顯示87.5％的邊緣測(cè)試點(diǎn)臨床可接受，各組邊緣適合性比較無(wú)差異（P>0.05）；SEM法顯示各組邊緣適合性均<120μm，Incoris AL組（65.1±28.2μm）與直接法和間接法Cerec Blocs組（4

3、3.2±15.0μm，38.3±19.3μm）、In-ceram YZ組（43.4±13.61μm）比較有統(tǒng)計(jì)學(xué)差異（P<0.01），而后三組比較無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)差異。此外，直接法的內(nèi)部適合性均值（119.1+60.6μm）與間接法Cerec Blocs組（112.4±45.0μm）比較沒(méi)有差異（P>0.05），但其近遠(yuǎn)中軸面（85.9±32.0μm，171.3±61.9μm）間有顯著差異（P<0.01）；間接法中，Cerec Blocs組的內(nèi)

4、部適合性優(yōu)于Incoris AL組（139.8±44.9μm）和In-ceram YZ組（141.9±40.9μm），而Incoris AL組與In-ceram YZ組之間沒(méi)有差異（P>0.05）；各組冠的（牙合）面適合性較差（范圍187.2～289.8μm）。
　　 結(jié)論：在本實(shí)驗(yàn)條件下（1）光學(xué)印模法對(duì)Cerec Blocs冠的邊緣適合性無(wú)影響，但直接法采集光學(xué)印模時(shí)存在遠(yuǎn)中陰影現(xiàn)象；（2）不同瓷材料冠的邊緣和內(nèi)部適合性均有