考試焦慮者注意偏向的動態(tài)時間變化.pdf

1、本研究主要采用事件相關(guān)電位技術(shù)(Event-related potential，ERP)和眼動追蹤技術(shù)(Eye-tracking technique)，通過評定標(biāo)準(zhǔn)化的考試焦慮圖片庫和詞匯庫，以考試相關(guān)及無關(guān)威脅詞匯或圖片作為刺激材料，探討了在點探測任務(wù)中刺激的呈現(xiàn)時間及威脅水平對高、低考試焦慮個體注意偏向的影響。
　　主要的結(jié)果和結(jié)論如下:
　　1.閾上200ms刺激呈現(xiàn)時，在行為水平上，高考試焦慮個體對考試相關(guān)威脅刺激存

2、在注意偏向，而低考試焦慮個體則對考試相關(guān)刺激存在注意回避;在腦電水平上，高考試焦慮組在考試無關(guān)威脅詞線索瑣時N1波幅增強以及考試相關(guān)威脅詞異側(cè)探測時的靶瑣時N200波幅增強和LPP波幅減弱，而低考試焦慮組的考試相關(guān)威脅詞異側(cè)探測時的靶瑣時N200波幅減弱。
　　2.閾下50ms刺激呈現(xiàn)時，與低考試焦慮相比，在行為水平上，高考試焦慮個體對考試相關(guān)低威脅刺激產(chǎn)生注意易化趨勢，并對考試相關(guān)高威脅刺激脫離易化;在腦電水平上，高考試焦慮個體

3、線索誘發(fā)的C1波幅、N1峰值以及靶刺激誘發(fā)的N1波幅和峰值、P1波幅增強。
　　3.閾上500ms刺激呈現(xiàn)時，與低考試焦慮相比，在行為水平上，高考試焦慮個體對考試相關(guān)的高、低威脅刺激均產(chǎn)生注意回避及脫離困難;在腦電水平上，高考試焦慮個體線索誘發(fā)的N1峰值以及靶刺激誘發(fā)的N1峰值、P1波幅升高。
　　4.在刺激呈現(xiàn)時間3000ms時，與低考試焦慮相比，高考試焦慮個體對考試相關(guān)低威脅刺激存在注意易化，對考試相關(guān)高威脅刺激注意回避

4、;隨著認(rèn)知負(fù)荷的增加，高考試焦慮個體對呈現(xiàn)時間為3000ms的考試相關(guān)威脅刺激脫離困難。
　　5.高考試焦慮個體對考試相關(guān)威脅刺激注意偏向呈現(xiàn)動態(tài)變化特征，對考試相關(guān)威脅刺激注意偏向出現(xiàn)在早期的前注意加工階段，并在后期的策略加工階段對威脅刺激注意保持或回避。威脅水平和認(rèn)知負(fù)荷也會調(diào)節(jié)考試焦慮者對考試相關(guān)威脅刺激注意偏向成分。
　　對本研究存在的局限、本研究結(jié)果及應(yīng)用進行了深入討論，且對于未來研究工作及研究方向，提供具體建議。