基于孔縫優(yōu)化和TVS管寄生參數(shù)補償?shù)腅SD防護方法研究.pdf

1、隨著電力電子設備日趨復雜化，電子設備中存在的靜電放電(Electro-Static Discharge，ESD)問題逐漸凸顯，并已經成為電子設備及系統(tǒng)的嚴重威脅。靜電放電具有高電位、強電場、瞬時大電流的特點，其電流波形的上升時間小于1ns，所以會在極短時間內產生很大的電流瞬態(tài)變化率。由于ESD干擾方式的多樣性以及工藝設計的局限性，單一的ESD防護方法難以解決電子設備的靜電問題。針對上述問題，本文對基于孔縫優(yōu)化和TVS管寄生參數(shù)補償?shù)腅S

2、D防護方法進行研究，主要工作如下:
　　1.分析了人體模型和人體金屬模型，構建了ESD發(fā)生器高頻電路模型，提取了放電電路的寄生參數(shù)，研究了放電電流的三種數(shù)學模型，包括四指數(shù)函數(shù)模型、高斯函數(shù)模型、雙指數(shù)函數(shù)模型，驗證了ESD發(fā)生器高頻電路模型。
　　2.基于波導理論分析了孔縫泄漏的影響，分析了孔縫對電磁屏蔽效能的影響，研究了孔縫接地線的干擾機理，利用Matlab/Simulink建立理想的機殼屏蔽模型和帶孔隙的機殼屏蔽模型，

3、通過對模型進行仿真研究，提出了孔縫優(yōu)化設計方法。
　　3.研究了TVS管的ESD防護機理，基于散射參數(shù)法提取了TVS管的內阻抗，建立TVS管高頻寄生參數(shù)模型，提取了TVS管高頻寄生參數(shù)，研究了高頻寄生參數(shù)對TVS管特性的影響，提出了TVS管寄生參數(shù)優(yōu)化的補償方法，通過實驗對補償方法進行驗證。
　　理論分析與實驗結果表明，本文提出的方法能夠應用于復雜電子設備的ESD問題中。以上述ESD防護方法的研究為基礎，解決了智能電表和盆腔