軟件內(nèi)建自測(cè)試中的測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試用例.pdf

1、上海大學(xué)碩士學(xué)位論文軟件內(nèi)建自測(cè)試中的測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試用例姓名：肖全亮申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：計(jì)算機(jī)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)指導(dǎo)教師：徐拾義20060101上海大學(xué)碩士學(xué)位論文ThePostgraduateThesisofShanghaiUniversity摘要長(zhǎng)久以來軟硬件測(cè)試通常是彼此獨(dú)立，各自發(fā)展的兩個(gè)領(lǐng)域，兩者之間幾乎沒有什么聯(lián)系。而事實(shí)上軟硬件測(cè)試存在著許多共性，測(cè)試人員也已經(jīng)自發(fā)地應(yīng)用了～些相似的測(cè)試方法，也就是說軟硬件測(cè)試在某種程度上存在著一

2、致性。另一方面，軟硬件規(guī)模越來越大，系統(tǒng)越來越復(fù)雜導(dǎo)致測(cè)試越來越困難。特別是軟件測(cè)試的研究工作更滯后于硬件測(cè)試。為了減輕軟件測(cè)試的負(fù)擔(dān)，需要在程序開發(fā)時(shí)就提前考慮測(cè)試問題，即進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)。“軟件內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)(BuiltInSelfTestforSoftware)”的思想正是建立在上述軟、硬件測(cè)試一致性理論上的一個(gè)實(shí)際例子。它將硬件測(cè)試中的內(nèi)建自測(cè)試(BIST)的思想移植到軟件測(cè)試和軟件可測(cè)性設(shè)計(jì)研究領(lǐng)域中。“BIST”在硬件測(cè)試和可

3、測(cè)性設(shè)計(jì)上已是一個(gè)成熟的技術(shù)，將這個(gè)成熟的技術(shù)應(yīng)用到軟件測(cè)試中去可以大大降低軟件測(cè)試的復(fù)雜度，提高可測(cè)性。BIST基本結(jié)構(gòu)包括模板(Template)和自治測(cè)試(Selftestin曲部分。而在BIST中構(gòu)成這兩部分溝通運(yùn)行的橋梁是測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試用例，測(cè)試點(diǎn)負(fù)責(zé)向模板中寫入測(cè)試需要的數(shù)據(jù)以供自測(cè)試部分使用；自治測(cè)試部分根據(jù)模板信息生成測(cè)試用例，并用來測(cè)試程序從而完成測(cè)試功能。本文主要研究測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試用例的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。測(cè)試點(diǎn)類似于硬件BIS

4、T技術(shù)中預(yù)埋測(cè)試功能的附加電路，在軟件中用插入測(cè)試語句來實(shí)現(xiàn)。本文重點(diǎn)研究了c語言程序的測(cè)試點(diǎn)的設(shè)置策略霈口在程序的適當(dāng)位置插入測(cè)試點(diǎn)。在測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)上是基于不同的故障模型設(shè)計(jì)了不同的測(cè)試點(diǎn)，我們對(duì)不同的故障模型進(jìn)行分析，并在此基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)了多種類型的測(cè)試點(diǎn)。同時(shí)在BIST中很重要的一部分就是測(cè)試用例的生成和實(shí)現(xiàn)。在研究過程中，為了使生成的測(cè)試用例達(dá)到較高的故障覆蓋率，采用了基于基本路徑測(cè)試的白盒分析方法，實(shí)現(xiàn)了一種全新的二叉化程序塊流程