偽裝長時記憶損害的神經機制研究.pdf

1、目的
　　 偽裝記憶損害是精神司法鑒定實踐中的常見現(xiàn)象。目前對人類偽裝記憶損害相關的神經網絡和神經發(fā)生機制進行的系列研究發(fā)現(xiàn)：偽裝工作記憶損害存在額-頂-皮質下回路，并且這一激活模式不受刺激材料類型、性別及母語的影響，具有高度的一致性和普遍性。
　　 而神經影像學方面關于記憶神經機制的研究認為不同類型的記憶存在功能重疊又各具獨特性。因而偽裝不同類型的記憶損害是共有一個神經回路還是各具獨特性呢？基于這一問題，本課題旨在研究

2、偽裝長時記憶損害的神經通路，并比較其與偽裝工作記憶損害的異同；探索偽裝記憶損害的一般神經機制。
　　 方法
　　 本研究采用兩項必選詞語記憶測驗模式，運用大腦功能磁共振掃描技術（fMRI），以12例大學生健康志愿者（男女各半）作為實驗研究對象（右利手、數(shù)字廣度≥7），設立長時記憶（實驗1）和工作記憶（實驗2）兩種情境，在掃描的同時分別進行誠實回答、隨機回答和偽裝回答三種任務，記錄反應時等行為學數(shù)據(jù)及影像學數(shù)據(jù)，掃描完成后

3、記錄受試者在隨機回答及偽裝回答時采用的策略。
　　 結果
　　 實驗1
　　 1．行為學數(shù)據(jù)表明：偽裝回答的反應時明顯長于誠實回答和隨機回答（p<0.01）；
　　 隨機回答的反應時明顯短于誠實回答和偽裝回答（p<0.05）。與誠實回答比，偽裝回答和隨機回答的正確率顯著下降（p<0.01）；而偽裝回答和隨機回答之間比較差異無統(tǒng)計學意義（p＞0.05）。
　　 2．影像學數(shù)據(jù)表明：誠實回答時右角回、

4、右緣上回、左頂下小葉、左扣帶前回、左枕下回、左眶額下回及小腦激活。以誠實回答為“基線”，偽裝回答時發(fā)現(xiàn)更多的左額葉激活；隨機回答未發(fā)現(xiàn)明顯激活區(qū)域。以隨機回答為“基線”，誠實回答與偽裝回答均未發(fā)現(xiàn)明顯激活區(qū)域。以偽裝回答為“基線”，誠實回答未發(fā)現(xiàn)明顯激活；隨機回答則有兩側扣帶回中部顯著激活。
　　 實驗2
　　 1．行為學數(shù)據(jù)：偽裝回答的反應時明顯長于誠實回答和隨機回答（p<0.01）；誠實回答和隨機回答的反應時無明顯差

5、異（p＞0.05）。與誠實回答比，偽裝回答和隨機回答的正確率顯著下降（p<0.01）；與隨機回答比，偽裝回答的正確率下降，差異有統(tǒng)計學意義（P<0.05）。
　　 2．影像學數(shù)據(jù)：誠實回答時右輔助運動區(qū)、額上回、顳下回及海馬、左小腦、額內側回及枕下回、以及雙側頂下小葉激活。與誠實回答比，偽裝回答時有更多的右扣帶前回、左楔前葉、左額上回、小腦及雙側梭狀回區(qū)域激活；隨機回答時左中央后回和右中央前回的兩個體素群激活增多。與偽裝回答比，

6、誠實回答未發(fā)現(xiàn)明顯激活腦區(qū)；隨機回答時右額上回、左頂下小葉和左中央后回激活顯著增多。
　　 結論
　　 1. 偽裝長時記憶損害主要激活左額前皮質，包括左額上回和左額內側回；偽裝工作記憶損害存在額-頂-皮質下回路。
　　 2. 偽裝長時記憶損害和偽裝工作記憶損害存在不同的神經回路，但又有某些功能重疊。推測左額上回為偽裝記憶損害的基本神經回路。
　　 3. 隨機回答可能作為一種高明的偽裝策略，涉及復雜的認知控