基于電容法的點(diǎn)接觸潤(rùn)滑狀態(tài)研究.pdf

1、實(shí)際工作中,經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)點(diǎn)接觸這一類高副潤(rùn)滑表面,如滾動(dòng)軸承等。這一類機(jī)械零件在生產(chǎn)實(shí)踐中經(jīng)常因?yàn)槟Σ聊p而產(chǎn)生故障。為了延長(zhǎng)零件的使用壽命,本文必須對(duì)這一類零件接觸面的摩擦狀態(tài)有清楚的認(rèn)識(shí)。因而點(diǎn)接觸彈流潤(rùn)滑理論成為了當(dāng)前的研究熱點(diǎn),許多學(xué)者都參與到這個(gè)研究領(lǐng)域中來(lái),并提出了若干假設(shè)和理論。
　　 本文在廣泛參考國(guó)內(nèi)外相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上,搭建了點(diǎn)接觸旋轉(zhuǎn)式試驗(yàn)臺(tái),并且針對(duì)此實(shí)驗(yàn)臺(tái)構(gòu)建了彈流計(jì)算理論模型。在理論模型構(gòu)建中,用Baru

2、s和Renolds的黏度定義替換了Hamrock—Dowson點(diǎn)接觸膜厚公式中的黏度定義式,并仿照ΓPYσHH誘導(dǎo)方程的設(shè)定方法,自行設(shè)定了新的誘導(dǎo)方程,簡(jiǎn)化了計(jì)算、提高了理論精度。對(duì)該理論模型的計(jì)算結(jié)果與Hamrock—Dowson公式所計(jì)算的結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比,得出了兩者結(jié)果基本一致。本文還運(yùn)用電容法對(duì)自行設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)臺(tái)的油膜厚度的變化趨勢(shì)進(jìn)行了測(cè)量和分析,得出不同轉(zhuǎn)速與載荷下電容值的變化規(guī)律,以及對(duì)應(yīng)最小油膜厚度的變化趨勢(shì)。用鏡像法與矩

3、量法對(duì)電容值進(jìn)行了計(jì)算,并且分析了鏡像法與矩量法計(jì)算結(jié)果產(chǎn)生偏差的原因。將計(jì)算出的電容值與實(shí)測(cè)電容值進(jìn)行了對(duì)比與分析。研究結(jié)果表明:當(dāng)載荷一定時(shí),電容值隨轉(zhuǎn)速的增加而減小,并且減小的幅度隨轉(zhuǎn)速的增加而變小。在定轉(zhuǎn)速的條件下,電容值隨載荷的增加而增加,并且增加的幅度隨載荷的增加而變小。電容值的變化受轉(zhuǎn)速的變化影響較大而載荷對(duì)電容值的影響較小。計(jì)算電容值隨著最小膜厚的變大也變小,并且隨著最小膜厚的增大,電容值減小的幅度越來(lái)越小。Hamroc