2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、作為提高光電系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵技術(shù)之一,機內(nèi)自測試(Built-in Test,后面均簡稱BIT)技術(shù)已經(jīng)成為該領(lǐng)域的重要研究方向。本文以提高光電綜合系統(tǒng)的應(yīng)用性能為目的,對紅外視頻采集系統(tǒng)的BIT技術(shù)進行了系統(tǒng)研究,實現(xiàn)了系統(tǒng)中各器件間的通信檢測以及PC端的狀態(tài)顯示、控制自檢等功能。
   第一,本文開篇簡要介紹了課題的核心概念——BIT檢測技術(shù)的背景與研究意義。
   第二,針對這一視頻采集系統(tǒng),本文對采用FPGA對整

2、體系統(tǒng)進行檢測和控制的優(yōu)勢進行了研究,并對軟件設(shè)計所需用到的三種開發(fā)環(huán)境與各類資源進行了說明。
   第三,文中對BIT技術(shù)的實際應(yīng)用和技術(shù)難點,主要是虛警問題,進行了深入分析和研究,建立起基于FPGA的整體軟件設(shè)計流程和結(jié)構(gòu)功能框架,將BIT分為通電自檢和周期自檢兩部分,并分別針對FPGA、STM32和DM642的性能特點來完成BIT程序在各模塊間的實現(xiàn)方法。
   第四,本文介紹了如何利用Visual C++Buil

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