已閱讀1頁,還剩51頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀
版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)
文檔簡介
1、作為提高光電系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵技術(shù)之一,機內(nèi)自測試(Built-in Test,后面均簡稱BIT)技術(shù)已經(jīng)成為該領(lǐng)域的重要研究方向。本文以提高光電綜合系統(tǒng)的應(yīng)用性能為目的,對紅外視頻采集系統(tǒng)的BIT技術(shù)進行了系統(tǒng)研究,實現(xiàn)了系統(tǒng)中各器件間的通信檢測以及PC端的狀態(tài)顯示、控制自檢等功能。
第一,本文開篇簡要介紹了課題的核心概念——BIT檢測技術(shù)的背景與研究意義。
第二,針對這一視頻采集系統(tǒng),本文對采用FPGA對整
2、體系統(tǒng)進行檢測和控制的優(yōu)勢進行了研究,并對軟件設(shè)計所需用到的三種開發(fā)環(huán)境與各類資源進行了說明。
第三,文中對BIT技術(shù)的實際應(yīng)用和技術(shù)難點,主要是虛警問題,進行了深入分析和研究,建立起基于FPGA的整體軟件設(shè)計流程和結(jié)構(gòu)功能框架,將BIT分為通電自檢和周期自檢兩部分,并分別針對FPGA、STM32和DM642的性能特點來完成BIT程序在各模塊間的實現(xiàn)方法。
第四,本文介紹了如何利用Visual C++Buil
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 系統(tǒng)芯片外建自測試技術(shù)研究.pdf
- 計算機測控系統(tǒng)自測試技術(shù)的研究.pdf
- NoC系統(tǒng)的內(nèi)建自測試(BIST)技術(shù)研究.pdf
- 電子系統(tǒng)內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 系統(tǒng)芯片(SOC)測試結(jié)構(gòu)與內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 自測試題
- SoC中內(nèi)建自測試設(shè)計技術(shù)研究.pdf
- 低功耗內(nèi)建自測試(BIST)設(shè)計技術(shù)的研究.pdf
- 內(nèi)建自測試的重復(fù)播種測試生成研究.pdf
- 集成電路低功耗內(nèi)建自測試技術(shù)的研究.pdf
- 可重構(gòu)陣列自測試與容錯技術(shù)研究.pdf
- 內(nèi)建自測試march算法的優(yōu)化研究.pdf
- 鎖相環(huán)內(nèi)建自測試研究.pdf
- SoC存儲器內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 無線內(nèi)裝自測試設(shè)備關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf
- 確定性邏輯內(nèi)建自測試技術(shù)研究.pdf
- 基于March C+算法的存儲器內(nèi)建自測試自測試設(shè)計與仿真.pdf
- 基于邊界掃描的內(nèi)建自測試技術(shù)及其應(yīng)用.pdf
- 基于軟件內(nèi)建自測試的測試用例研究.pdf
評論
0/150
提交評論