2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩74頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、VDMOS功率場(chǎng)效應(yīng)晶體管是國(guó)外80年代迅速發(fā)展起來(lái)的一種新型功率器件。具有開(kāi)關(guān)速度快、輸入阻抗高、熱穩(wěn)定性好、無(wú)二次擊穿等優(yōu)點(diǎn),可用于AC/DC開(kāi)關(guān)電源、激光電源、等離子電源、雷達(dá)電源、不間斷電源及電機(jī)調(diào)速等領(lǐng)域。在節(jié)能和國(guó)民經(jīng)濟(jì)及軍用方面具有廣泛的前景及良好的社會(huì)經(jīng)濟(jì)效益。目前VDMOS需要解決的主要問(wèn)題是高耐壓下導(dǎo)通電阻大的問(wèn)題。
   本文的研究目標(biāo)是在特定高耐壓下盡量降低導(dǎo)通電阻,從而降低能耗。通過(guò)硅限理論確定了VDM

2、OS元胞的外延層摻雜、外延層厚度和特征導(dǎo)通電阻。通過(guò)Silvaco公司開(kāi)發(fā)的TCAD軟件平臺(tái),利用ATHENA物理模型工藝仿真工具對(duì)氧化、刻蝕、擴(kuò)散、離子注入、薄膜淀積等進(jìn)行VDMOS工藝虛擬制造,使用ATLAS器件特性仿真工具進(jìn)行了VDMOS結(jié)構(gòu)參數(shù)驗(yàn)證。
   本文所設(shè)計(jì)的VDMOS擊穿電壓實(shí)際為800V,開(kāi)啟電壓為1.2V,特征導(dǎo)通電阻為0.16Ω·cm2,達(dá)到設(shè)計(jì)要求。本文的研究?jī)?nèi)容對(duì)實(shí)現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件及制備工藝的模擬設(shè)

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論