超長掃描深度OCT對不同眼軸白內(nèi)障患者術(shù)后晶狀體囊袋的形態(tài)學(xué)研究.pdf

1、目的:
　　 應(yīng)用超長掃描深度OCT研究不同眼軸白內(nèi)障患者術(shù)后晶狀體囊袋的形態(tài)學(xué)變化
　　 方法:
　　 本文為前瞻性對照臨床研究。選取2011年7月至2012年1月于溫州醫(yī)學(xué)院附屬眼視光醫(yī)院行白內(nèi)障超聲乳化聯(lián)合人工晶狀體植入手術(shù)的患者40例（40只眼）。按照眼軸的不同，分為長眼軸組和正常眼軸組。其中20只眼為長眼軸眼（眼軸＞26mm），剩余20只眼為正常眼軸眼（22mm＜眼軸＜24.5mm）。分別于術(shù)后4小時，

2、1天，7天，14天，28天及3月使用超長掃描深度OCT進行觀察，比較兩組術(shù)后晶狀體囊袋的形態(tài)學(xué)變化。
　　 結(jié)果:
　　 1、正常眼軸組與長眼軸組術(shù)后囊袋彎曲形成主要分為5個階段:(1)晶狀體前囊膜未與人工晶狀體(Intraocular Lens，IOL)貼附;(2)晶狀體前囊膜貼附于IOL前表面;(3)晶狀體周邊前、后囊膜之間貼附;(4)貼附的前后囊膜逐漸向光學(xué)區(qū)邊緣延伸;(5)晶狀體囊膜完全貼附于IOL光學(xué)區(qū)邊緣。<

3、br>　　 2、正常眼軸組術(shù)后晶狀體囊膜與IOL的貼附比長眼軸組快。長眼軸組與正常眼軸組晶狀體鼻側(cè)前囊膜與IOL前表面貼附在術(shù)后1天及7天差異存在統(tǒng)計學(xué)意義（P=0.000，P=0.001），而在術(shù)后14天、28天及術(shù)后3月差異無統(tǒng)計學(xué)意義(P=0.605，P=1.000，P=1.000);兩組間顳側(cè)前囊膜與IOL前表面貼附僅在術(shù)后1天差異存在統(tǒng)計學(xué)意義(P=0.003)，其余時間差異均無統(tǒng)計學(xué)意義。術(shù)后3月時，兩組晶狀體前囊膜全部與

4、IOL前表面的貼附。長眼軸組與正常眼軸組晶狀體后囊膜與IOL后表面貼附在術(shù)后1天、7天、14天、28天及3月差異均存在統(tǒng)計學(xué)意義(P=0.020，P=0.000，P=0.000，P=0.000，P=0.000);術(shù)后3月時，長眼軸組僅在4只眼中觀察到晶狀體后囊膜與IOL后表面完全貼附，而正常眼軸組中則有16眼。
　　 3、6種類型的囊袋彎曲在隨訪中被觀察到:(1)前粘附型;(2)中間粘附型;(3)后粘附型;(4)漏斗型;(5)平

5、行型;(6)交叉型。
　　 4、術(shù)后28天時，長眼軸組中有5只眼開始出現(xiàn)輕微的后囊膜混濁(posteriorcapsular opacification，PCO)，而正常眼軸組中僅發(fā)現(xiàn)1眼出現(xiàn)。術(shù)后3月時，長眼軸組發(fā)生PCO的眼增加到7只，而正常眼軸組仍為1眼。
　　 結(jié)論:
　　 1、超長掃描深度OCT可以清晰觀察白內(nèi)障術(shù)后囊袋彎曲形成的過程。
　　 2、長眼軸組術(shù)后晶狀體囊膜與IOL的貼附率較低，且容