閃存的優(yōu)化測試方法.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、眾所周知,閃存的發(fā)展從容量到速度都超乎人們想象。測試就相應(yīng)地處在越來越重要的地位,因?yàn)楫a(chǎn)品的發(fā)展使得測試時間越來越長,對測試設(shè)備體積和速度的要求也越來越高。測試在半導(dǎo)體行業(yè)中一直是比較昂貴的。測試并不決定或者影響產(chǎn)品質(zhì)量,所以不會為產(chǎn)品帶來任何附加價值。測試的目的,是通過失效產(chǎn)品以發(fā)現(xiàn)制造工藝中的缺陷,并及時找到補(bǔ)救或者持續(xù)改進(jìn)的方法以減少對終端客戶的影響或者提高產(chǎn)品生產(chǎn)率。在開發(fā)和測試存儲器件方面,工程師面臨著許多挑戰(zhàn)。要獲得更低的消

2、費(fèi)價格,就要不斷削減測試成本和時間。從設(shè)備而言,動輒上百萬美金的設(shè)備不容易進(jìn)行測試上的升級,而且即使升級價格也非常昂貴,通常為企業(yè)所不取。 本文所研究的TTR方法是基于產(chǎn)品原理的,并不從基本上對測試設(shè)備做出任何改進(jìn),而是通過軟件的設(shè)計方法結(jié)合產(chǎn)品工作原理,實(shí)現(xiàn)高效準(zhǔn)確地完成對產(chǎn)品的質(zhì)量測試。相對歐美而言,由于存儲器產(chǎn)品的整體發(fā)展程度早于國內(nèi)所以國外的測試設(shè)備和測試方法也比較先進(jìn)。通過對于產(chǎn)品測試pattern的設(shè)計來優(yōu)化測試時間

3、的方法在多種測試方法著作中都有談及,但是由于產(chǎn)品原理不同,所以所應(yīng)用的優(yōu)化方法也大相徑庭,但是無論如何,測試pattern的優(yōu)化已經(jīng)成為存儲器乃至整個半導(dǎo)體行業(yè)目前所廣泛采用的測試優(yōu)化方法之課題研究的目標(biāo)為存儲器測試設(shè)備,閃存產(chǎn)品以及測試所用到的測試模版。研究內(nèi)容是針對產(chǎn)品原理,測試流程和主要的失效模式,并根據(jù)測試原理和經(jīng)驗(yàn)設(shè)計出最優(yōu)的測試模版以達(dá)到節(jié)省測試時間提高測試效率的目的由于測試費(fèi)用昂貴,如何降低測試成本一直是工廠所優(yōu)先考慮的問

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