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文檔簡介
1、隨著集成電路的特征尺寸逐漸縮小,集成度與復(fù)雜度日益提高,測試已成為VLSI設(shè)計(jì)面臨的重大挑戰(zhàn)之一。如何應(yīng)用可測性設(shè)計(jì)方法進(jìn)行邏輯設(shè)計(jì),以減輕繁重的測試任務(wù),減少測試費(fèi)用和測試時(shí)間,是VLSI設(shè)計(jì)中的一個(gè)重要課題。作為與-異或邏輯的重要補(bǔ)充,或一符合邏輯比傳統(tǒng)的與或非邏輯形式更適合運(yùn)用在一定的應(yīng)用中,例如算術(shù)邏輯函數(shù)、線性或近似線性函數(shù)等,在許多應(yīng)用中其平均需要的和項(xiàng)數(shù)較小,能夠節(jié)省芯片面積。此外或.符合邏輯具有較好的可測性,在可測性設(shè)計(jì)
2、上具有較大的潛在價(jià)值。本文系統(tǒng)地討論了或一符合邏輯系統(tǒng)針對固定故障的可測性設(shè)計(jì)方法和測試,并以或-符合邏輯的形式進(jìn)一步探討了與.異或和或。符合邏輯的可測性特點(diǎn)。 或-符合邏輯具有4種表示形式,分別為正極性或-符合展開(positivepolarity OR-Coincidence expansion,PPOC),固定極性或-符合展開(fixedpolarity OR-Coincidence expansion,F(xiàn)POC),混合極
3、性或.符合展開(generalizedOR-Coincidence expansion,GOC),符合積表示(Coincidence products-of-sum,CPOS),這四種表示之間的相互關(guān)系為后面的表示包含前面。實(shí)現(xiàn)符合邏輯的同或電路主要有串聯(lián)和樹形2種實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu),后者適合輸入變量數(shù)較多且對電路速度要求較高的情況。文章首先研究了基于或.符合邏輯的易測性網(wǎng)絡(luò),所謂易測性網(wǎng)絡(luò)是指與傳統(tǒng)的電路網(wǎng)絡(luò)相比,其測試矢量的個(gè)數(shù)、規(guī)則性及生成
4、難易度上具有明顯優(yōu)勢。提出了PPOC基于串聯(lián)同或結(jié)構(gòu)的單故障和多故障易測性網(wǎng)絡(luò)PPOC-CS(M)(C表示串聯(lián)同或結(jié)構(gòu),S和M表示單固定和多固定故障)。提出了2種典型的同或樹以及它們的可測性結(jié)構(gòu),給出了這2種最小可測性同或樹的生成方法,在此基礎(chǔ)上提出了PPOC基于樹形同或結(jié)構(gòu)的單故障和多故障易測性網(wǎng)絡(luò)PPOC-TC(M)(T表示樹形同或結(jié)構(gòu))。在PPOC易測性網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)上,提出了基于FPOC、GOC和CPOS的各相應(yīng)易測性網(wǎng)絡(luò)。提出了由
5、FPOC構(gòu)成的混合極性網(wǎng)絡(luò),以及提供反相輸入時(shí)GOC和CPOS易測性網(wǎng)絡(luò)的可測性設(shè)計(jì)方法。與傳統(tǒng)電路的測試相比,提出的各單故障易測性網(wǎng)絡(luò)的完全測試集均為基數(shù)非常小的通用測試集,可方便地通過內(nèi)建自測試等方法實(shí)現(xiàn);多故障易測性網(wǎng)絡(luò)的測試集也較為規(guī)則,易于生成。各單故障易測性網(wǎng)絡(luò)只需很少的觀察和控制端及其他測試邏輯,多故障易測性網(wǎng)絡(luò)需要的測試邏輯也相對較少,在測試邏輯負(fù)荷與可測性之間達(dá)到了一個(gè)較好的平衡。 文章最后提出了或-符合代數(shù)形
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