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文檔簡(jiǎn)介
1、 本文作者以浙江大學(xué)16位定點(diǎn)數(shù)字信號(hào)處理器-MD16的驗(yàn)證測(cè)試工作基礎(chǔ),針對(duì)數(shù)字信號(hào)處理器的可測(cè)性設(shè)計(jì)、測(cè)試程序產(chǎn)生和軟硬件協(xié)同驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)等展開(kāi)論證,力求建立一套面向數(shù)字信號(hào)處理器的驗(yàn)證和測(cè)試方法,以便能夠使數(shù)字信號(hào)處理器變得可測(cè)、易測(cè);同時(shí)能夠提高數(shù)字信號(hào)處理器的測(cè)試覆蓋率和速度,從而縮短產(chǎn)品的上市周期?! ?本文的主要內(nèi)容和創(chuàng)新如下:提出了一種基于IEEE1149.1JTAG接口協(xié)議基礎(chǔ)上的EICM設(shè)計(jì)方法。通過(guò)
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